[发明专利]指纹传感器的有缺陷的电容式传感器元件的校正与检测有效
| 申请号： | 201780002427.7 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107851187B9 | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 蒂埃里·贝利耶;弗朗斯·拉利贝特 | 申请（专利权）人： | 指纹卡有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 杜诚;马骁 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种对从电容式传感器获取的电荷值进行校正的方法，包括：获取一个或更多个有缺陷的电容式传感器元件的列表，对于列表中的电容式传感器元件，选择其位置作为第一位置，在其周围放置第一过滤器窗口并且根据第一过滤器窗口内的电荷值来计算用于第一位置的替换值，在位于第一过滤器窗口内的有缺陷的电容式传感器元件的第一阈值数目被超过的情况下，放弃计算用于第一位置的替换值而在第一位置周围放置具有比第一过滤器窗口更大的区域的第二过滤器窗口并且根据第二过滤器窗口内的电荷值来计算用于第一位置的替换值，但是在位于第二过滤器窗口内的有缺陷的电容式传感器元件的第二阈值数目被超过的情况下，放弃计算用于第一位置的替换值。 | ||
| 搜索关键词： | 指纹 传感器 缺陷 电容 元件 校正 检测 | ||
【主权项】：
1.一种计算机实现的方法，包括：‑获取布置在指纹传感器阵列(101)中在所述指纹传感器阵列中的相应位置处的电容式传感器元件(102)的电荷值；‑获取一个或更多个有缺陷的电容式传感器元件的列表(304)；‑对于所述列表(304)中的有缺陷的电容式传感器元件，选择其位置作为第一位置，并且，‑通过以下来执行第一操作(313)：在所述第一位置周围放置第一过滤器窗口并且根据所述第一过滤器窗口内的电荷值来计算用于所述第一位置的替换值，但是在位于所述第一过滤器窗口内的有缺陷的电容式传感器元件的第一阈值数目被超过的情况下，放弃计算用于所述第一位置的替换值；‑在所述第一操作(313)放弃计算用于所述第一位置的替换值的情况下，通过以下来执行第二操作(314)：在所述第一位置周围放置第二过滤器窗口并且根据所述第二过滤器窗口内的电荷值来计算用于所述第一位置的替换值，但是在位于所述第二过滤器窗口内的有缺陷的电容式传感器元件的第二阈值数目被超过的情况下，放弃计算用于所述第一位置的替换值；其中，所述第二过滤器窗口具有比所述第一过滤器窗口更大的区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于指纹卡有限公司，未经指纹卡有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780002427.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
