[外观设计]半导体制造装置用密封材料有效
申请号: | 201730127927.6 | 申请日: | 2017-04-17 |
公开(公告)号: | CN304380764S | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 村田慧;森田慎也;铃木正志 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立国际电气;东邦化成株式会社 |
主分类号: | 15-99 | 分类号: | 15-99 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人: | 丁文蕴,许凯 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 1.本外观设计产品的名称半导体制造装置用密封材料。2.本外观设计产品的用途本产品为一种密封材料,其用于密封半导体制造装置的基板处理空间内的气体,使弯曲半径较小的尖端侧与既定部件接触,可以将两个部件进行密封。3.本外观设计产品的设计要点本外观设计产品的形状。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片主视图。 | ||
搜索关键词: | 半导体 制造 装置 密封材料 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立国际电气;东邦化成株式会社,未经株式会社日立国际电气;东邦化成株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201730127927.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类