[实用新型]一种X射线吸收谱测量装置有效
| 申请号： | 201721797929.7 | 申请日： | 2017-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN207586148U | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘涛;唐跃强;黄翀 | 申请（专利权）人： | 长沙新材料产业研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人： | 郭立中 |
| 地址： | 410205 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种新型的X射线吸收谱测量装置，通过集成荧光探测装置和样品安放装置来实现，在实践中与X射线源、电流放大装置和处理器共同联用。荧光探测装置的第一探测模块为光电二极管(PIN‑diode)。在被测样品与荧光探测装置之间安置可过滤电子的过滤膜。测量装置内集成样品安放装置，采用掠入射几何，与X射线的夹角范围为1‑4°。通过大面积探测器、过滤膜、掠入射几何的结合，可实现材料X射线吸收谱的有效检测，相对于传统的探测器来说，探测灵敏度和探测效率都有大幅提升。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光探测装置 测量装置 样品安放 过滤膜 入射 大面积探测器 电流放大装置 本实用新型 光电二极管 探测灵敏度 被测样品 射线吸收 探测模块 探测效率 有效检测 传统的 材料X 处理器 探测器 联用 过滤 安置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线吸收谱测量装置，其特征在于：包括用于放置被测样品(20)的样品安放装置(8)，向被测样品(20)发射所述X射线的X射线源(30)，所述被测样品(20)接收X射线并发出荧光信号；还包括用于探测所述荧光信号的荧光探测装置(6)以及与荧光探测装置(6)的输出电连接的处理器(10)，所述的样品安放装置(8)上的被测样品(20)的安装面与X射线的夹角范围为1°‑4°。
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