[实用新型]一种偏光片角度测量装置有效
申请号: | 201721553336.6 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN207439650U | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 翁秋龙;张新华 | 申请(专利权)人: | 信利半导体有限公司 |
主分类号: | G01M11/04 | 分类号: | G01M11/04 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 邓义华;陈卫 |
地址: | 516600 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种偏光片角度测量装置,包括一暗箱,所述暗箱内设有水平放置的测试平台,测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源,所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线,所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行,在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器,所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头,所述测量探头正对光源设置。该装置测试偏光片的角度,结构简单、体积小、造价低,可适用于使用偏光片制造液晶显示器的企业用以检测偏光片的角度,降低液晶显示器制造企业的生产成本。 | ||
搜索关键词: | 偏光片 玻璃基板 角度测量装置 测量探头 测试平台 亮度测试 暗箱 对位线 平行 液晶显示器制造 制造液晶显示器 本实用新型 固定距离 光源设置 装置测试 体积小 透明的 吸收轴 下表面 正对 显示屏 光源 生产成本 检测 | ||
【主权项】:
1.一种偏光片角度测量装置,其特征在于,包括一暗箱,所述暗箱内设有水平放置的测试平台,测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源,所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线,所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行,在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器,所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头,所述测量探头正对光源设置。
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