[实用新型]一种偏光片角度测量装置

说明书

本实用新型公开了一种偏光片角度测量装置，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线，所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。该装置测试偏光片的角度，结构简单、体积小、造价低，可适用于使用偏光片制造液晶显示器的企业用以检测偏光片的角度，降低液晶显示器制造企业的生产成本。

技术领域

本实用新型涉及偏光片技术领域，更具体地涉及一种偏光片角度测量装置。

背景技术

偏光片的基本结构包括中间的PVA和两层TAC，其中偏光片的角度是指偏光片吸收轴与偏光片的0°边的夹角，0°边是指偏光片的6点钟方向所对应的边。企业对偏光片来料的角度的管控对整个液晶显示器来说尤为重要，偏光片角度偏差1°可以降低液晶显示器100至200的对比度，而目前市面上专业的偏光片角度测量仪器比较昂贵，液晶显示器制造企业由于成本的控制无法对每个IQC都配备该专业的偏光片角度测量仪器，因此针对液晶显示器制造企业应该提出一种结构简单、制造成本低的偏光片角度测量装置。

实用新型内容

为了解决所述现有技术的不足，本实用新型提供了一种结构简单、造价低的偏光片角度测量装置。

本实用新型所要达到的技术效果通过以下方案实现：一种偏光片角度测量装置，包括一暗箱，所述暗箱内设有水平放置的测试平台，测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源，所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线，所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行，在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器，所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头，所述测量探头正对光源设置。

优选地，所述玻璃基板的厚度小于等于0.5mm。

优选地，所述对标偏光片与玻璃基板通过光学胶贴合。

优选地，所述光源为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。

优选地，所述光源的波长范围为380nm~780nm。

优选地，光源与对标偏光片通过PSA胶贴合。

优选地，对标偏光片的下表面、光源外围区域还设有遮光层。

优选地，遮光层为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜。

本实用新型具有以下优点：

通过在暗箱内设置测试平台、光源和亮度测试器，测试平台的下表面放置对标偏光片，测试平台的上表面放置待测偏光片测试待测偏光片的角度，结构简单、体积小、造价低，可适用于使用偏光片制造液晶显示器的企业用以检测偏光片的角度，降低液晶显示器制造企业的生产成本。

附图说明

图1为本实用新型中偏光片角度测量装置的结构示意图；

图2为图1中玻璃基板的平面示意图；

图3为图1中对标偏光片的平面示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的说明，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。