[实用新型]一种偏光片角度测量装置有效

专利信息
申请号: 201721553336.6 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN207439650U 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 翁秋龙;张新华 申请(专利权)人: 信利半导体有限公司
主分类号: G01M11/04 分类号: G01M11/04
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 邓义华;陈卫
地址: 516600 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 偏光片 玻璃基板 角度测量装置 测量探头 测试平台 亮度测试 暗箱 对位线 平行 液晶显示器制造 制造液晶显示器 本实用新型 固定距离 光源设置 装置测试 体积小 透明的 吸收轴 下表面 正对 显示屏 光源 生产成本 检测
【权利要求书】:

1.一种偏光片角度测量装置,其特征在于,包括一暗箱,所述暗箱内设有水平放置的测试平台,测试平台包括一透明的玻璃基板、设置在玻璃基板下表面的对标偏光片和设置在对标偏光片下方的光源,所述玻璃基板上设有至少两条平行的对位线,所述对标偏光片的吸收轴与对位线平行,在玻璃基板的上方、距离玻璃基板一固定距离设有亮度测试器,所述亮度测试器包括形成在暗箱外的显示屏和形成在暗箱内的测量探头,所述测量探头正对光源设置。

2.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,所述玻璃基板的厚度小于等于0.5mm。

3.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,所述对标偏光片与玻璃基板通过光学胶贴合。

4.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,所述光源为LED光源或者CCFL光源或者环境光源。

5.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,所述光源的波长范围为380nm~780nm。

6.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,光源与对标偏光片通过PSA胶贴合。

7.如权利要求1所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,对标偏光片的下表面、光源外围区域还设有遮光层。

8.如权利要求7所述的一种偏光片角度测量装置,其特征在于,遮光层为黑色胶带或者厚度为50微米及以上的黑色PVC膜。

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