[实用新型]保偏光纤延时环测试系统有效

专利信息
申请号: 201720171588.6 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN206496890U 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: 李建光;肖浩;刘博阳;雷军;郝琰 申请(专利权)人: 北京世维通光智能科技有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 北京邦信阳专利商标代理有限公司11012 代理人: 刘金峰
地址: 065201 河北省廊坊市*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 实用新型实施例提供一种保偏光纤延时环测试系统中,偏振光生成元件发出两束偏振方向垂直的线偏振光,经过敏感元件和待测保偏光纤延时环往返传输之后由探测器探测到干涉光强,因为敏感元件在通电导体电流的作用下对两束偏振光作用,会使返回的两束偏振光之间的相位差与通电导体中的电流有关,而待测保偏光纤延时环当前所处的环境也会引入误差影响两束光的相位差,因此探测器探测到的干涉光强转换为电流值之后,一部分是通电导体中的电流影响,一部分是待测保偏光纤延时环所述环境引入误差引入的影响,所以根据这两个电流值即可得到与待测保偏光纤延时环所处环境对应的测量误差。
搜索关键词: 偏光 延时 测试 系统
【主权项】:
一种保偏光纤延时环测试系统,其特征在于,包括:敏感元件,包括光纤环以及分别设置于所述光纤环两端的光纤波片和反射镜,其中所述光纤环内有通电导体穿过;偏振光生成元件,发出两束偏振方向垂直的线偏振光,两束线偏振光经待测保偏光纤延时环、所述光纤波片、所述光纤环传输,由所述反射镜反射后返回,返回后的两束线偏振光发生干涉;探测器,检测干涉光强,并得到与所述干涉光强对应的电信号;信号处理单元,接收所述探测器发送的电信号,解析后得到测量电流值;上位机,根据所述通电导体中的基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测保偏光纤延时环在所处环境下引入的测量误差。
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