[发明专利]一种闪存芯片测试方法和系统有效
| 申请号： | 201711445182.3 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN108564984B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 蔡德智;王永成;韩飞 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种闪存芯片测试方法和系统，涉及芯片测试技术领域。其中，所述方法包括：将校准装置接口板和PMU测量单元连接；PMU测量单元和PC连接；闪存芯片接口板和校准装置接口板等位替换；使PMU测量单元接收PC发送的第一输出指令；PMU测量单元向校准装置接口板提供稳定的第一初始电源；PMU测量单元同时测试校准装置对应的第一测试电压和第一测试电流；PMU测量单元将第一测试电压和第一测试电流反馈给PC；PC配置第一校准参数；然后校准PMU测量单元；将闪存芯片接口板等位替换校准装置接口板，测试闪存芯片，能够实现自动化校准，同时使校准线路与实际测试线路一致，提高闪存芯片的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种闪存芯片测试方法，应用于闪存芯片测试系统，其特征在于，所述系统的包括：PC，PMU测量单元、校准装置接口板、闪存芯片接口板；其中，所述校准装置接口板包括：校准装置和接口板；所述校准装置接口板和所述PMU测量单元连接；所述PMU测量单元和所述PC连接；所述闪存芯片接口板和所述校准装置接口板等位替换；所述方法，包括：所述PMU测量单元接收所述PC发送的第一输出指令；其中，所述第一输出指令包括：第一输出电压指令或第一输出电流指令；所述PMU测量单元根据所述第一输出指令，向所述校准装置接口板提供稳定的第一初始电源；其中，所述第一初始电源包括：第一初始电流或第一初始电压；所述PMU测量单元在提供稳定的第一初始电源的同时，测试所述校准装置对应的第一测试电压和第一测试电流；所述PMU测量单元将所述第一测试电压和所述第一测试电流反馈给所述PC；所述PC根据所述第一输出指令、所述第一测试电压、第一测试电流和所述校准装置，配置第一校准参数；所述PMU测量单元根据所述第一校准参数校准所述PMU测量单元；将所述闪存芯片接口板等位替换所述校准装置接口板后，并采用经过第一校准参数校准后的所述PMU测量单元测试所述闪存芯片。
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