[发明专利]一种闪存芯片测试方法和系统

权利要求书

1.一种闪存芯片测试方法，应用于闪存芯片测试系统，其特征在于，所述系统的包括：PC，PMU测量单元、校准装置接口板、闪存芯片接口板；其中，所述校准装置接口板包括：校准装置和接口板；所述校准装置接口板和所述PMU测量单元连接；所述PMU测量单元和所述PC连接；所述闪存芯片接口板和所述校准装置接口板等位替换；

所述方法，包括：

所述PMU测量单元接收所述PC发送的第一输出指令；其中，所述第一输出指令包括：第一输出电压指令或第一输出电流指令；

所述PMU测量单元根据所述第一输出指令，向所述校准装置接口板提供稳定的第一初始电源；其中，所述第一初始电源包括：第一初始电流或第一初始电压；

所述PMU测量单元在提供稳定的第一初始电源的同时，测试所述校准装置对应的第一测试电压和第一测试电流；

所述PMU测量单元将所述第一测试电压和所述第一测试电流反馈给所述PC；

所述PC根据所述第一输出指令、所述第一测试电压、第一测试电流和所述校准装置，配置第一校准参数；

所述PMU测量单元根据所述第一校准参数校准所述PMU测量单元；

将所述闪存芯片接口板等位替换所述校准装置接口板后，并采用经过第一校准参数校准后的所述PMU测量单元测试所述闪存芯片。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述系统还包括：高精度测量仪器；其中，所述高精度测量仪器与所述校准装置接口板连接，且所述高精度测量仪器与所述PC连接；

则所述PMU测量单元接收所述PC发送的第一输出指令的步骤之前，还包括：

所述PMU测量单元接收所述PC发送的第二输出指令；其中，所述第二输出指令包括：第二输出电压指令或第二输出电流指令；

所述PMU测量单元根据所述第二输出指令，向所述校准装置接口板提供稳定的第二初始电源；其中，所述第二初始电源包括：第二初始电流或第二初始电压；

所述高精度测量仪器测试所述校准装置接口板的第二测试电压，并将所述第二测试电压反馈给所述PC；

所述PC根据所述第二测试电压和所述第二输出指令，配置第二校准参数；

当所述PC将所述第二校准参数发送给所述PMU测量单元后，所述PMU测量单元根据第二校准参数校准所述PMU测量单元；

则所述PMU测量单元接收所述PC发送的第一输出指令的步骤，包括：

采用经过所述第二校准参数校准后的所述PMU测量单元接收所述PC发送的第一输出指令。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述PC根据所述第一输出指令、所述第一测试电压、第一测试电流和所述校准装置，配置第一校准参数的步骤，包括：

所述PC根据所述第一输出指令和所述校准装置，获取对应的第一标准电压和第一标准电流；

所述PC计算所述第一标准电压和所述第一测试电压的电压差值，同时计算所述第一标准电流和所述第一测试电流的电流差值；

所述PC根据所述电压差值和所述电流差值，配置第一校准参数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述第二输出指令为所述第二输出电压指令时，则所述PC根据所述第二测试电压和所述第二输出指令，配置所述第二校准参数的步骤，包括：

所述PC计算所述第二测试电压和所述第二输出电压指令的第二电压差值；

所述PC根据所述第二电压差值，配置所述第二校准参数。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述第二输出指令为所述第二输出电流指令时，则所述PC根据所述第二测试电压和所述第二输出指令，配置所述第二校准参数的步骤，包括：

所述PC获取所述校准装置接口板的第一电阻；

所述PC根据所述第一电阻和所述第二输出电流指令，计算第一电压；

所述PC计算所述第二测试电压和所述第一电压的第三电压差值；

所述PC根据所述第三电压差值，配置所述第二校准参数。