[发明专利]LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质有效
| 申请号： | 201711442282.0 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108227250B | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 张永易;郑颖博 | 申请（专利权）人： | 武汉华显光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 杨艇要 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LCD质检方法，该方法包括：获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。本发明还公开了一种LCD质检装置、CIM系统及计算机存储介质。本发明可节约人工和时间成本，提高LCD产品的光学不良检出率，降低光学不良的误判率。 | ||
| 搜索关键词： | lcd 质检 方法 装置 cim 系统 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种LCD质检方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。
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