[发明专利]LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质

说明书

本发明公开了一种LCD质检方法，该方法包括：获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。本发明还公开了一种LCD质检装置、CIM系统及计算机存储介质。本发明可节约人工和时间成本，提高LCD产品的光学不良检出率，降低光学不良的误判率。

技术领域

本发明涉及LCD质检技术领域，尤其涉及一种LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)液晶显示屏具有低耗电量、体积小、零辐射等优点，广泛应用于PC、电视机、移动终端等设备的屏幕显示。为保证LCD的显示功能，在LCD产出后，需对其进行品质检验。目前LCD的质检，是由人工对LCD进行画面和外观检验来实现的，且需要检验多个画面，这一过程主要依靠质检人员的经验和肉眼敏锐程度，容易造成光学不良的错判和漏判等误判情况。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质，旨在解决现有仅靠人工进行LCD质检的方式，易出现误判情况的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种LCD质检方法，该方法包括：

获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；

确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；

基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果；

从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果。

可选地，所述制程参数包括压头温度、载台温度、本压时间和本压温度，所述质检结果包括光学不良的种类和不良率。

可选地，所述获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数的步骤之前，包括：

获取待检验LCD的初始制程参数；

对所述初始制程参数，以及预存的初始历史制程参数，分别进行归一化处理，得到所述待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数。

可选地，所述确定所述待检验LCD的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度的步骤包括：

分别计算待检验LCD的制程参数与预存的历史制程参数的欧氏距离，得到对应的欧式距离数据；

所述基于所述相似度，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果的步骤包括：

根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果。

可选地，所述根据所述欧式距离数据，结合预存的所述历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD对应的质检结果的步骤包括：

按照由小到大的顺序对所述欧式距离数据进行排序，得到欧式距离数据序列；

按照预设规则，从所述欧式距离数据序列中提取出目标欧式距离数据；

将所述目标欧式距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为所述待检验LCD对应的质检结果。

可选地，所述从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD的预测质检结果的步骤包括：