[发明专利]LCD质检方法、装置、CIM系统及计算机存储介质

权利要求书

1.一种LCD质检方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数；

确定所述待检验LCD液晶显示屏的制程参数，与预存的历史制程参数的相似度；基于所述相似度，结合所述预存的历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD液晶显示屏对应的质检结果；

从匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD液晶显示屏的预测质检结果；

其中，所述确定所述待检验LCD的制程参数，与所述预存的历史制程参数的相似度的步骤包括：分别计算待检验LCD液晶显示屏的制程参数与所述预存的历史制程参数的欧氏距离，得 到对应的欧氏距离数据；

所述基于所述相似度，结合所述预存的历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD液晶显示屏对应的质检结果的步骤包括：

根据所述欧氏距离数据，结合所述预存的历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验LCD液晶显示屏对应的质检结果；

其中，所述根据所述欧氏距离数据，结合所述预存的历史制程参数对应的质检结果，匹配所述待检验 LCD对应的质检结果的步骤包括：

按照由小到大的顺序对所述欧氏距离数据进行排序，得到欧氏距离数据序列；

从所述欧氏距离数据序列中提取出目标欧氏距离数据；将所述目标欧氏距离数据对应的历史制程参数的质检结果，匹配为所述待检验LCD液晶显示屏对应的质检结果。

2.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述制程参数包括压头温度、载台温度、本压时间和本压温度，所述质检结果包括光学不良的种类和不良率。

3.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述获取待检验LCD液晶显示屏的制程参数的步骤之前，包括：

获取待检验LCD液晶显示屏的初始制程参数；

对所述初始制程参数，以及所述预存的历史制程参数，分别进行归一化处理，得到所述待检验LCD的制程参数，以及历史制程参数。

4.如权利要求3所述的LCD质检方法，其特征在于，所述从所述匹配的质检结果中，提取出满足预设条件的质检结果，作为所述待检验LCD液晶显示屏的预测质检结果的步骤包括：

确定所述匹配的质检结果中，不同的质检结果的数量；

选取数量最多的质检结果，作为所述待检验LCD液晶显示屏的预测质检结果。

5.如权利要求1所述的LCD质检方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述待检验LCD液晶显示屏的预测质检结果发送至人工质检工段，供所述人工质检工段对所述待检验LCD液晶显示屏进行质检，以确定所述待检验LCD液晶显示屏的最终质检结果。

6.一种LCD质检装置，其特征在于，所述LCD质检装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的LCD质检程序，LCD质检程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的LCD质检方法的步骤。

7.一种CIM系统，其特征在于，所述CIM系统包括：bonding模块、全贴合模块、组装模块、OTP模块、CIM系统质检模块、人工质检模块和LCD质检程序，所述LCD质检程序被所述CIM系统质检模块执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的LCD质检方法的步骤。

8.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有LCD质检程序，所述LCD质检程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的LCD质检方法的步骤。