[发明专利]激光分析仪谱线校正方法及系统在审
| 申请号： | 201711378112.0 | 申请日： | 2017-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN108181268A | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 曾繁华;王竞 | 申请（专利权）人： | 重庆川仪自动化股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G01N21/27 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 李琦 |
| 地址： | 400700*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供一种激光分析仪谱线校正方法及系统，该方法包括：步骤S1，采集激光分析仪的输出谱线；步骤S2，检测输出谱线的偏移值是否高于预设值；步骤S3，当输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正输出谱线直至其小于第一预设值为止；步骤S4，当输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正输出谱线直至其低于第二预设值为止，返回步骤S3继续校正。通过多参数相结合方式对输出谱线进行校正，按预设阈值采用温度控制与电流控制分段校正，一方面，缩短了校正的时间，提高了校正效率，另一方面，两种方式相结合提高了校正精度，同时，相对于人工标定校正，不影响仪表正常使用。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 预设 输出谱 谱线 偏移 激光分析仪 控制方式 校正输出 电流反馈 电流控制 激光分析 结合方式 温度反馈 影响仪表 多参数 标定 分段 采集 返回 检测 | ||
【主权项】：
1.一种激光分析仪谱线校正方法，其特征在于，所述方法包括：步骤S1，采集激光分析仪的输出谱线；步骤S2，检测所述输出谱线的偏移值是否高于预设值，所述预设值包括第一预设值与第二预设值，所述第一预设值小于第二预设值；步骤S3，当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其小于第一预设值为止；步骤S4，当所述输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其低于第二预设值为止，返回步骤S3继续校正输出谱线。
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