[发明专利]激光分析仪谱线校正方法及系统

说明书

本发明提供一种激光分析仪谱线校正方法及系统，该方法包括：步骤S1，采集激光分析仪的输出谱线；步骤S2，检测输出谱线的偏移值是否高于预设值；步骤S3，当输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正输出谱线直至其小于第一预设值为止；步骤S4，当输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正输出谱线直至其低于第二预设值为止，返回步骤S3继续校正。通过多参数相结合方式对输出谱线进行校正，按预设阈值采用温度控制与电流控制分段校正，一方面，缩短了校正的时间，提高了校正效率，另一方面，两种方式相结合提高了校正精度，同时，相对于人工标定校正，不影响仪表正常使用。

技术领域

本发明涉及激光光谱分析技术领域，特别是涉及一种激光分析仪谱线校正方法及系统。

背景技术

激光分析仪采用单谱线吸收光谱技术进行气体浓度的分析，激光光源输出谱线通过温度和电流的控制，使其稳定在设定值上。但是随着光源电器的老化和外界环境的变化会使得光源的输出谱线发生偏移，造成检测气体偏差。

然而，当前普遍采用方法是定期做手动标定进行校正，调整光源输出谱线促使激光分析仪恢复正常。但采用手动标定进行校正需要拆卸激光分析仪，同时，影响正常生产，降低了生产效率，造成的经济的损失较大。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种激光分析仪谱线校正方法及系统，用于解决现有技术中激光分析仪输出光源发生谱线偏移时，无法自动校正激光分析仪输出谱线的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本申请的第一方面，本发明提供一种激光分析仪谱线校正方法，包括：

步骤S1，采集激光分析仪的输出谱线；

步骤S2，检测所述输出谱线的偏移值是否高于预设值，所述预设值包括第一预设值与第二预设值，所述第一预设值小于第二预设值；

步骤S3，当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其小于第一预设值为止；

步骤S4，当所述输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其低于第二预设值为止，返回步骤S3继续校正输出谱线。

本申请的第二方面，本发明提供的一种激光分析仪谱线校正系统，包括：

采集模块，用于采集激光分析仪的输出谱线；

检测模块，用于检测所述输出谱线的偏移值是否高于预设值，所述预设值包括第一预设值与第二预设值，所述第一预设值小于第二预设值；

第一校正模块，用于当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其小于第一预设值为止；

第二校正模块，用于当所述输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其低于第二预设值为止，采用第一校正模块继续校正输出谱线。

如上所述，本发明的激光分析仪谱线校正方法及系统，具有以下有益效果：

本发明通过多参数相结合的方式对激光分析仪的输出谱线进行校正，按预设阈值采用温度控制与电流控制分段校正，一方面，缩短了校正的时间，提高了校正的效率，另一方面，两种方式相结合校正提高了校正精度，同时，相对于人工标定校正，无需拆卸仪表，不影响仪表正常使用。

附图说明

图1显示为本发明提供的一种激光分析仪谱线校正方法流程图；

图2显示为本发明提供的一种激光分析仪谱线校正方法第一实施例流程图；

图3显示为本发明提供的一种激光分析仪谱线校正系统流程图；