[发明专利]激光分析仪谱线校正方法及系统

权利要求书

1.一种激光分析仪谱线校正方法，其特征在于，所述方法包括：

步骤S1，采集激光分析仪的输出谱线；

步骤S2，检测所述输出谱线的偏移值是否高于预设值，所述预设值包括第一预设值与第二预设值，所述第一预设值小于第二预设值；

步骤S3，当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其小于第一预设值为止；

步骤S4，当所述输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其低于第二预设值为止，返回步骤S3继续校正输出谱线。

2.根据权利要求1所述的激光分析仪谱线校正方法，其特征在于，所述步骤2中检测所述输出谱线偏移值是否高于预设值的具体步骤，包括：

检测所述输出谱线的偏移值是否高于第一预设值；或/和

检测所述输出谱线的偏移值是否高于第一预设值且小于第二预设值。

3.根据权利要求1所述的激光分析仪谱线校正方法，其特征在于，所述步骤3包括：

当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，采用以下公式进行电流反馈控制调节校正的电流输出大小，直到校正的输出谱线小于第一预设值为止；

I_S＝I_A+0.002×E (1)

式(1)中，I_S为校正的电流输出，I_A为原有电流输出，E为中心点偏差。

4.根据权利要求1所述的激光分析仪谱线校正方法，其特征在于，所述步骤S4中当所述输出谱线偏移值高于第二预设值且其达到预设警戒值时，则不进行反馈控制校正输出谱线，产生报警提示以通知检测激光分析仪。

5.根据权利要求1所述的激光分析仪谱线校正方法，其特征在于，所述步骤S4包括：

当所述输出谱线的偏移值高于第二预设值时，采用以下公式进行温度反馈控制调节校正的温度输出大小，当校正的输出谱线小于第二预设值时，采用电流反馈控制调节校正的电流大小，直到校正的输出谱线小于第一预设值为止；

T_S＝T_A+0.005×E (2)

式(2)中，T_S为校正的温度输出，T_A为原有温度输出，E为中心点偏差。

6.一种激光分析仪谱线校正系统，其特征在于，所述系统包括：

采集模块，用于采集激光分析仪的输出谱线；

检测模块，用于检测所述输出谱线的偏移值是否高于预设值，所述预设值包括第一预设值与第二预设值，所述第一预设值小于第二预设值；

第一校正模块，用于当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，则采用电流反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其小于第一预设值为止；

第二校正模块，用于当所述输出谱线的偏移值高于第二预设值时，则采用温度反馈的控制方式校正所述输出谱线直至其低于第二预设值为止，采用第一校正模块继续校正输出谱线。

7.根据权利要求6所述的激光分析仪谱线校正系统，其特征在于，所述检测模块进一步包括：

检测所述输出谱线的偏移值是否高于第一预设值；或/和

检测所述输出谱线的偏移值是否高于第一预设值且小于第二预设值。

8.根据权利要求6所述的激光分析仪谱线校正系统，其特征在于，所述第一校正模块进一步包括：

当所述输出谱线的偏移值高于第一预设值且低于第二预设值时，采用以下公式进行电流反馈控制调节校正的电流输出大小，直到校正的输出谱线小于第一预设值为止；

I_S＝I_A+0.002×E (1)

式(1)中，I_S为校正的电流输出，I_A为原有电流输出，E为中心点偏差。