[发明专利]一种带有场板的GaN-HEMT芯片的制作工艺在审
申请号: | 201711367271.0 | 申请日: | 2017-12-18 |
公开(公告)号: | CN108054098A | 公开(公告)日: | 2018-05-18 |
发明(设计)人: | 闫稳玉;吴伟东;张薇葭;王占伟;刘双昭;王旭东;赵利 | 申请(专利权)人: | 山东聚芯光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L29/778;H01L29/40 |
代理公司: | 山东济南齐鲁科技专利事务所有限公司 37108 | 代理人: | 郑向群 |
地址: | 257091 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: |
本发明提供一种带有场板的GaN‑HEMT芯片的制作工艺,由GaN外延片为原材料,其中所述的制造工艺为:在衬底上低温生长氮化镓作为缓冲层,在缓冲层上进行HEMT结构生长,首先生成数微米厚度的高温GaN外延层,再在GaN外延层上生长Al |
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搜索关键词: | 一种 带有 gan hemt 芯片 制作 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种带有场板的GaN-HEMT芯片的制作工艺,由GaN外延片(4)为原材料,其特征在于:所述的制造工艺为:1)在衬底上低温生长氮化镓作为缓冲层,在缓冲层上进行HEMT结构生长,首先生成数微米厚度的高温GaN外延层,再在GaN外延层上生长AlX Ga1-X N薄层,AlGaN和GaN界面GaN一侧会形成二维电子气(2DEG)(6),2DEG是HEMT器件的导电层;2)MESA光刻:首先在外延片表面涂一层光刻胶,将MESA光刻板覆在光刻胶上进行曝光,光刻胶曝光后性状发生改变,多余光刻胶通过显影和去胶工艺去除;光刻胶上形成了MESA光刻板上同样的的图案;然后使用ICP刻蚀机对覆有光刻胶的外延片进行ICP刻蚀,未被光刻胶保护的区域会被刻蚀出设定的深度,其深度在2DEG以下;3)SD电极制作:首先在MESA后的外延片上涂一层光刻胶,用SD光刻板在MESA后的外延片上形成SD电极的图形,然后进行金属淀积,金属淀积以后进行撕金操作去除多余的金属,去除多余的光刻胶,最后进行快速退火处理,形成欧姆接触后即完成SD电极的制作;4)G极(2)制作:采用步骤3)同样的工序制作G极(2)金属,在G极(2)与AlGaN之间形成肖特基接触,则完成G极(2)制作;5)加钝化层(3):以等离子增强化学气相沉积(PECVD)方式在氮化镓铝层外层形成一层钝化层(3),钝化层(3)厚度高于S、D电极的高度;定点刻蚀覆盖于电极区上方的钝化层(3),露出钝化层(3);6)加场板(7):在钝化层(3)上涂一层光刻胶,用SD光刻板在MESA后的外延片上形成SD电极的图形,然后进行金属淀积,金属淀积以后进行撕金操作去除多余的金属,最后去除多余的光刻胶。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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