[发明专利]一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法有效
| 申请号： | 201711366932.8 | 申请日： | 2017-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN108108890B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 戴伟;吴孟遥;吴晓楠 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06Q10/06 | 分类号： | G06Q10/06;G06F30/20;G06F119/02 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 刘广达 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法，包括：S1：根据传统PFMEA(过程失效模式以及影响分析)分析各缺陷模式的RPN(风险优先数)；S2：建立工艺缺陷模糊矩阵；S3：模糊缺陷风险分析；S4：建立缺陷间相互关联矩阵；S5：建立关联风险分析模型。本发明的优点在于，一是考虑了缺陷间的关联关系，得到的缺陷风险值的排序结果与传统的RPN分析方法相比，量化分析了模糊语义的风险评价结果，对RPN值相同或相近的缺陷风险程度进行了区分。二是提出的风险分析方法考虑了工序与工序之间不同缺陷的相互影响关系，因此其相对风险评价结果更能反映实际的加工情况，更具参考应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 工序 关联 关系 工艺 缺陷 风险 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法，其特征在于，包括：S1：根据传统过程失效模式以及影响分析(PRMEA)分析各缺陷模式的风险优先数(RPN)；S2：建立工艺缺陷模糊矩阵；S3：模糊缺陷风险分析；S4：建立缺陷间相互关联矩阵；S5：建立关联风险分析模型。
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G06 计算；推算；计数
G06Q 专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或方法；其他类目不包含的专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的处理系统或方法
G06Q10-00 行政；管理
G06Q10-02 .预定，例如用于门票、服务或事件的
G06Q10-04 .预测或优化，例如线性规划、“旅行商问题”或“下料问题”
G06Q10-06 .资源、工作流、人员或项目管理，例如组织、规划、调度或分配时间、人员或机器资源；企业规划；组织模型
G06Q10-08 .物流，例如仓储、装货、配送或运输；存货或库存管理，例如订货、采购或平衡订单
G06Q10-10 .办公自动化，例如电子邮件或群件的计算机辅助管理
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