[发明专利]一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法有效

专利信息
申请号: 201711366932.8 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN108108890B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 戴伟;吴孟遥;吴晓楠 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 刘广达
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 工序 关联 关系 工艺 缺陷 风险 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法,其特征在于,包括:

S1:根据传统过程失效模式以及影响分析(PFMEA)分析各缺陷模式的风险优先数(RPN);

S2:建立工艺缺陷模糊矩阵;

S3:模糊缺陷风险分析;

S4:建立缺陷间相互关联矩阵;

S5:建立关联风险分析模型;

其中,所述风险分析模型为:

其中,为相对风险,为每种缺陷的相对风险,g(i)为缺陷i的原因度;

,其中,tc(i)表示第i种缺陷受到其它所有缺陷类型的影响度之和,tr(i)表示第i种缺陷对其它所有缺陷类型的影响度之和;

所述步骤S2还包括:

S2.1:建立工艺缺陷评估矩阵;

S2.2:采用模糊术语对每个维度的指标进行评价;

S2.3:得出工艺缺陷模糊评估矩阵;

所述步骤S3还包括:

S3.1:对所述工艺缺陷模糊评估矩阵进行规范化处理;

S3.2:通过层次分析法确定权重向量,对规范化后的模糊矩阵进行加权,得到决策矩阵;

S3.3:根据TOPSIS理论,定义最大强度缺陷类型和最小强度缺陷类型,采用距离测度公式确定每种缺陷的相对风险;

所述步骤S4还包括:

S4.1:通过构造缺陷关系有向图建立缺陷之间直接影响关系矩阵;

S4.2:得出缺陷之间相对直接影响关系矩阵;

S4.3:求出缺陷综合影响矩阵,得出各缺陷对其它缺陷总的影响强度。

2.根据权利要求1所述的工艺缺陷风险分析方法,其特征在于,所述步骤S5还包括:

根据所述各缺陷对其它缺陷总的影响强度以及所述每种缺陷的相对风险得出工艺缺陷相对综合风险,建立关联综合风险分析模型。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711366932.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top