[发明专利]一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法有效

专利信息
申请号: 201711366932.8 申请日: 2017-12-18
公开(公告)号: CN108108890B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 戴伟;吴孟遥;吴晓楠 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06F30/20;G06F119/02
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 刘广达
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 工序 关联 关系 工艺 缺陷 风险 分析 方法
【说明书】:

一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法,包括:S1:根据传统PFMEA(过程失效模式以及影响分析)分析各缺陷模式的RPN(风险优先数);S2:建立工艺缺陷模糊矩阵;S3:模糊缺陷风险分析;S4:建立缺陷间相互关联矩阵;S5:建立关联风险分析模型。本发明的优点在于,一是考虑了缺陷间的关联关系,得到的缺陷风险值的排序结果与传统的RPN分析方法相比,量化分析了模糊语义的风险评价结果,对RPN值相同或相近的缺陷风险程度进行了区分。二是提出的风险分析方法考虑了工序与工序之间不同缺陷的相互影响关系,因此其相对风险评价结果更能反映实际的加工情况,更具参考应用价值。

技术领域

本发明涉及工艺缺陷分析领域,特别是涉及一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法,用于反映复杂加工过程中工艺的缺陷风险。

背景技术

传统的工艺失效模式及影响因素分析(PFMEA:Process Failure Mode andEffects Analysis)所针对的失效模式指工艺过程可能发生的不满足工艺要求的情形,即工艺缺陷,是对某具体工序的不符合要求程度进行的描述。其常用RPN(Risk PriorityNumber)——风险优先数来定量表征各种缺陷,并对缺陷风险进行区分和排序,其具体步骤为:

分析各工序可能产生的缺陷形式,分析确定各缺陷形式的发生度(O)、严重度(S)和探测度(D)。

按下面公式计算各缺陷形式的风险优先数

RPN=O×S×D

根据计算得到的RPN的值对缺陷进行排序,确定关键工序和关键缺陷进行工艺优化和改进。

该方法比较简便且能够较快定位关键缺陷,但在在实际的生产制造过程中,失效模式多种多样,与失效模式相对应的工艺缺陷也很多,不考虑工艺缺陷相互之间的影响显然是不科学的,所以传统PFMEA分析方在法使用过程中存在很多不足之处。

首先,在对工艺缺陷的发生度(O)、严重度(S)以及探测度(D)进行描述时,通常采用的办法是进行主观的定性分析,按照事先确定的度量对应关系转化为相应的某个数值。但是,主观的语义描述都是比较模糊的区间概念,具有一定的不确定性,因此传统PFMEA方法选择单个确定值来定量表示这些不确定信息,存在一定的片面性;其次,从缺陷风险优先数的计算公式可以看出,缺陷发生率、严重度和探测度这三个维度是同等重要的,实际分析时可能产生 RPN值相同或相近的结果,但是缺陷的发生率、严重度以及探测度都不同,对产品的影响程度也不同,显然传统的PFMEA分析方法无法区分不同因子之间的重要程度;再次,工艺缺陷受到工序进程的影响,不同工序之间或同一工序之间的缺陷可能存在传递性或者相关性,传统的PFMEA分析方法也没有考虑不同缺陷之间的影响关系,因此导致分析过程存在局限性;最后,在实际的生产制造过程中,失效模式多种多样,与失效模式相对应的工艺缺陷也很多,且缺陷的优先级、缺陷之间的相互作用通过传统的工艺失效模式和影响因素分析过程难以确定,针对缺陷问题实施工艺改进的工作难以有效开展。

发明内容

本发明公开了一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法。针对产品工艺缺陷难以表征的问题,结合了传统的工艺失效模式和影响因素分析过程,采用了层次分析法对缺陷的严重度、发生度和探测度这三个维度的指标进行权重分配。同时在建立工艺缺陷有向图的基础上确定缺陷之间的之间影响关系矩阵。通过考虑每种缺陷的相对风险和原因度比重,建立工艺缺陷风险分析模型对工艺缺陷进行风险评估,从而找出关键缺陷进行有效改进。

具体的,本发明公开了一种基于工序关联关系的工艺缺陷风险分析方法,包括:

S1:根据传统过程失效模式以及影响分析(PRMEA)分析各缺陷模式的风险优先数(RPN);

S2:建立工艺缺陷模糊矩阵;

S3:模糊缺陷风险分析;

S4:建立缺陷间相互关联矩阵;

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