[发明专利]一种自动化芯片条测试机在审

专利信息
申请号: 201711331502.2 申请日: 2017-12-13
公开(公告)号: CN107894561A 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 黄日新;王萌 申请(专利权)人: 镭神技术(深圳)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 代理人: 谭雪婷,高早红
地址: 518000 广东省深圳市宝安区新安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及自动化生产设备领域,特别涉及一种自动化芯片条测试机,包括一框架,所述框架上表面通过安装螺栓固定连接一运动耦合测试装置,所述运动耦合测试装置一侧通过安装螺栓固定连接多功能电源电表,所述框架内部设置有控制系统、控制计算机、光谱分析仪和电气柜,控制系统、控制计算机、光谱分析仪和电气柜均通过安装螺栓与框架固定连接,所述运动耦合测试装置包括一精密隔振光学平台和XYZ轴载料台,所述精密隔振光学平台上表面通过安装螺栓固定连接XYZ轴载料台。与现有技术相比,本发明的自动化芯片条测试机定位精准、温度一致性高、生产效率高。
搜索关键词: 一种 自动化 芯片 测试
【主权项】:
一种自动化芯片条测试机,其特征在于,包括一框架,所述框架上表面通过安装螺栓固定连接一运动耦合测试装置,所述运动耦合测试装置一侧通过安装螺栓固定连接多功能电源电表,所述框架内部设置有控制系统、控制计算机、光谱分析仪和电气柜,控制系统、控制计算机、光谱分析仪和电气柜均通过安装螺栓与框架固定连接;所述运动耦合测试装置包括一精密隔振光学平台和XYZ轴载料台,所述精密隔振光学平台上表面通过安装螺栓固定连接XYZ轴载料台。
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