[发明专利]多维折线段测量定标法有效
| 申请号： | 201711329155.X | 申请日： | 2017-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN108240836B | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 杨文举 | 申请（专利权）人： | 上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所） |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00;G06F17/17 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 庄文莉 |
| 地址： | 200063 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多维折线段测量定标法，包括如下步骤：S1、确定被测量、直接测量参数和影响测量的所有因素；S2、确定每种影响测量因素的测量点数和直接测量参数的测量点数，通过标准的被测量值测得直接测量参数的值，即定标样本数据；直接测量参数构成一维定标样本数据，每增加一种影响测量的因素，就相对多一维定标样本数据；S3、基于定标样本数据进行折线段定标测量；折线段的定标由最高维向一维逐步归一推进。本发明解决了多维折线段的定标问题，突破了折线段定标使用的局限性，特别是当测量点数越细致时，能够大幅提高测量精度。本发明在多个测试仪器的定标中使用，取得了很好的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 多维 折线 测量 定标 | ||
【主权项】：
1.多维折线段测量定标法，其特征在于，包括如下步骤：S1、确定被测量、直接测量参数和影响测量的所有因素；S2、确定每种影响测量因素的测量点数和直接测量参数的测量点数，通过标准的被测量值测得直接测量参数的值，即定标样本数据；直接测量参数构成一维定标样本数据，每增加一种影响测量的因素，就相对多一维定标样本数据；S3、基于定标样本数据进行折线段定标测量；折线段的定标由最高维向一维逐步归一推进。
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