[发明专利]多维折线段测量定标法

说明书

本发明公开了一种多维折线段测量定标法，包括如下步骤：S1、确定被测量、直接测量参数和影响测量的所有因素；S2、确定每种影响测量因素的测量点数和直接测量参数的测量点数，通过标准的被测量值测得直接测量参数的值，即定标样本数据；直接测量参数构成一维定标样本数据，每增加一种影响测量的因素，就相对多一维定标样本数据；S3、基于定标样本数据进行折线段定标测量；折线段的定标由最高维向一维逐步归一推进。本发明解决了多维折线段的定标问题，突破了折线段定标使用的局限性，特别是当测量点数越细致时，能够大幅提高测量精度。本发明在多个测试仪器的定标中使用，取得了很好的效果。

技术领域

本发明涉及测试测量领域，具体涉及一种多维折线段测量定标法。

背景技术

在测试测量领域中，被测量常受单个或多个因素的影响，并且被测量与影响因素可能存在非线性关系。目前常采用折线段法或查表法定标，由于折线段定标法是把两个测量点之间的非测量点用折线段近似，而查表定标法对非测量点仅用测量点简单代替，所以折线段定标法比查表定标法测量精度更高，使用更广泛。但是当影响测量的因素越多，即定标样本数据维数越多时，查表定标法可以使用；对于折线段定标法，二维定标样本数据如何使用存在难度，特别是当影响被测量的因素越多时，定标样本数据维数会越多，折线段定标法的使用更成问题。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种多维折线段测量定标法。

本发明是通过以下技术方案实现的。

多维折线段测量定标法，包括如下步骤：

S1、确定被测量、直接测量参数和影响测量的所有因素；

S2、确定每种影响测量因素的测量点数和直接测量参数的测量点数，通过标准的被测量值测得直接测量参数的值，即定标样本数据；直接测量参数构成一维定标样本数据，每增加一种影响测量的因素，就相对多一维定标样本数据；

S3、基于定标样本数据进行折线段定标测量；折线段的定标由最高维向一维逐步归一推进。

本发明解决了多维折线段的定标问题，突破了折线段定标使用的局限性，特别是当测量点数越细致时，能够大幅提高测量精度。本发明在多个测试仪器的定标中使用，取得了很好的效果。

具体实施方式

下面对本发明的实施例作详细说明：本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。

对比例

(1)测量案例1：被测量为y，直接测量参数为x，y与x成非线性关系，没有其它影响测量的因素。

测量案例1为一维情况。根据测量精度要求，首先确定测量定标样本数据的点数(测量精度要求越高，划分的越细，测量的定标样本数据点数越多,下同)，假定为n个测量点，再利用标准的Y值，测得对应的X，X为一维数组，即X[]＝{X₁，X₂，X₃。。。。。。X_n}，定标样本数据见表1。

表1一维定标样本数据