[发明专利]多维折线段测量定标法

权利要求书

1.多维折线段测量定标法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1、确定被测量、直接测量参数和影响测量的所有因素；

被测量为y，直接测量参数为x，y与x成非线性关系，并且a因素影响测量；

步骤S2、确定每种影响测量因素的测量点数和直接测量参数的测量点数，通过标准的被测量值测得直接测量参数的值，即定标样本数据；直接测量参数构成一维定标样本数据，每增加一种影响测量的因素，就相对多一维定标样本数据；

影响测量因素a的测量点数为n，即A₁、A₂....A_n，直接测量参数x的测量点数为m，由于测量因素只有一种，所以定标样本数据为二维.利用标准的Y值测得对应的X，二维定标样本数据；

步骤S3、基于定标样本数据进行折线段定标测量；折线段的定标由最高维向一维逐步归一推进；

所述步骤S2按照测量精度要求，首先确定因素a的测量点数，假定为n个测量点，即A₁、A₂....A_n，然后在每种a因素的情况下，利用标准的Y值，测得m个对应的X，X为两位维数组，即X[][]＝{X_A1Y1,X_A1Y2，X_A1Y3......X_A1Ym；X_A2Y1,X_A2Y2，X_A2Y3......X_A2Ym；......；X_AnY1,X_AnY2，X_AnY3......X_AnYm}；建立一个或者多个二维定标样本数据表；对于查表定标法，直接根据实测的a和x的值在表中的范围，选择Y赋值给y,最终计算出被测量y.查表法按条件赋值如下：

y＝Y1(A₁≤a＜A₂，X_A1Y1≤x＜X_A1Y2)；

y＝Y2(A₁≤a＜A₂，X_A1Y2≤x＜X_A1Y3)；

y＝Y3(A₁≤a＜A₂，X_A1Y3≤x＜X_A1Y4)；

......

y＝Y1(A_n-1≤a＜A_n，X_A1Y1≤x＜X_A1Y2)；

y＝Y2(A_n-1≤a＜A_n，X_A1Y2≤x＜X_A1Y3)；

y＝Y3(A_n-1≤a＜A_n，X_A1Y3≤x＜X_A1Y4)；

所述步骤S3包括：

步骤S3.1：假定a的实际测量值为A',且A1≤A'≤A2，x的实际测量值为X',且(X_A1Y1≤X'≤X_A1Y2)(X_A2Y1≤X'≤X_A2Y2)，计算Y'；

所述步骤S3.1包括：

步骤S3.1.1:采用两点[(A1,X_A1Y1),(A2,X_A2Y1)]确定一条线的折线段法计算x_A'Y1.x_A'Y1＝(X_A2Y1-X_A1Y1)/(A2-A1)*(A'-A1)+X_A1Y1；

步骤S3.1.2:采用两点[(A1,X_A1Y2),(A2,X_A2Y2)]确定一条线的折线段法计算x_A'Y2.x_A'Y2＝(X_A2Y2-X_A1Y2)/(A2-A1)*(A'-A1)+X_A1Y2；

步骤S3.1.3:采用两点[(x_A'Y1,Y1),(x_A'Y2,Y2)]计算A'情况下y_A'与x_A'之间的折线段，y_A'＝(Y2-Y1)/(x_A'Y2-x_A'Y1)*(x_A'-x_A'Y1)+Y1；

步骤S3.1.4:利用第三步的折线段计算Y'.Y'＝(Y2-Y1)/(x_A'Y2-x_A'Y1)*(X'-x_A'Y1)+Y1；

步骤S3.2:当X'取任意值时，假定a的实际测量值为A',且A1≤A'≤A2，x的实际测量值为X',且(X_A1Y1≤X'≤X_A1Y2)(X_A2Y3≤X'≤X_A2Y4)，计算Y'；

所述步骤S3.2包括：

步骤S3.2.1，采用两点[(A1,X_A1Y1),(A2,X_A2Y3)]确定一条线的折线段法计算x_A'Y1-3.x_A'Y1-3＝(X_A2Y3-X_A1Y1)/(A2-A1)*(A'-A1)+X_A1Y1；

步骤S3.2.2，采用两点[(A1,X_A1Y2),(A2,X_A2Y4)]确定一条线的折线段法计算x_A'Y2-4.x_A'Y2-4＝(X_A2Y4-X_A1Y2)/(A2-A1)*(A'-A1)+X_A1Y2；

步骤S3.2.3，采用两点[(x_A'Y1-3,Y1),(x_A'Y2-4,Y2)]计算A'情况下y_A'与x_A'之间的折线段，y_A'＝(Y2-Y1)/(x_A'Y2-4-x_A'Y1-3)*(x_A'-x_A'Y1-3)+Y1；

步骤S3.2.4，利用第三步的折线段计算Y'.Y'＝(Y2-Y1)/(x_A'Y2-4-x_A'Y1-3)*(X'-x_A'Y1-3)+Y1。