[发明专利]一种横向功率MOS高压器件在审

专利信息
申请号: 201711302604.1 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN109904230A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 胡盛东;黄野;杨冬;袁琦;郭经纬;林智 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 崔自京
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种横向功率MOS高压器件,包括多层衬底P型硅层、N型有源层和P型区,N型有源层设置于多层衬底P型硅层的上方,多层衬底P型硅层包括n层P型硅层,P型硅层的层数n为大于或等于2的整数,第n层P型硅层与第(n‑1)层P型硅层之间设有设有不连续的N+区,N+区与P型硅层衬底形成NP结,N型有源层与第n层P型硅层部分通过P型区接触。在常规的基于RESURF器件的基础上,通过在多层衬底P型硅层界面埋设不连续的N+区,使得衬底电势钉扎,在衬底中引入新的电场峰值,降低漏端下方主结电场,达到辅助衬底耗尽的目的;还使得N+区与P型硅层衬底形成的NP结的纵向电场值降低,从而在保证器件不击穿的条件下达到优化器件横向电场的目的。
搜索关键词: 衬底 多层 高压器件 横向功率 电场 不连续 衬底电势 横向电场 优化器件 纵向电场 常规的 钉扎 耗尽 击穿 漏端 埋设 主结 引入 保证
【主权项】:
1.一种横向功率MOS高压器件,其特征在于,包括多层衬底P型硅层、N型有源层和P型区,所述N型有源层设置于多层衬底P型硅层的上方,所述多层衬底P型硅层包括n层P型硅层,所述P型硅层的层数n为大于或等于2的整数,第n层P型硅层与第(n‑1)层P型硅层之间设有不连续的N+区,所述N+区与所述P型硅层衬底形成NP结,所述N型有源层与第n层P型硅层部分通过P型区接触。
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