[发明专利]一种内嵌flash芯片的基准源修调方法有效
| 申请号： | 201711287926.3 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN109901650B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 石志刚 | 申请（专利权）人： | 北京确安科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G05F1/56 | 分类号： | G05F1/56 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;李相雨 |
| 地址： | 100094 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种内嵌flash芯片的基准源修调方法，包括：S1、通过ATE测试机对内嵌flash芯片中预设的基本基准源进行修调，获得基本基准源的修调结果；S2、对于所述内嵌flash芯片中其他的任意一个基准源，通过所述内嵌flash芯片自带的比较器，将该基准源的穷举的各修调值与所述基本基准源的修调结果进行对比，将符合预设阈值的修调值作为该基准源的修调结果。本发明实施例通过对内嵌flash芯片测试需求的拆分，实现不同测试需求都达到最大的同测数，通过减少外部ATE测试机测量的次数，达到降低测试时间的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 flash 芯片 基准 源修调 方法 | ||
【主权项】：
1.一种内嵌flash芯片的基准源修调方法，其特征在于，包括：S1、通过ATE测试机对内嵌flash芯片中预设的基本基准源进行修调，获得基本基准源的修调结果；S2、对于所述内嵌flash芯片中其他的任意一个基准源，通过所述内嵌flash芯片自带的比较器，将该基准源的穷举的各修调值与所述基本基准源的修调结果进行对比，将符合预设阈值的修调值作为该基准源的修调结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京确安科技股份有限公司，未经北京确安科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711287926.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：限流电路、耳蜗植入体、及电子耳蜗
- 下一篇：一种智能型电力直流操作电源系统
