[发明专利]温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法有效
| 申请号： | 201711245180.X | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108322732B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 张广伟;徐华楠;孙小亮;王凯;朱寅非;汪江华 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 61204 西北工业大学专利中心 | 代理人： | 王鲜凯 |
| 地址： | 471099 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，将温度可变辐射材料引入红外成像领域，在红外热像仪工作环境温度变化后，使用红外辐射基于温度变化的材料，保证非均匀校正时，校正挡板响应在两点校正线性区。在不增加软硬件系统的额外开销、不改变系统积分时间的条件下，消除因环境温度变化造成的非均匀性。在红外热像仪因工作环境温度变化，画面出现非均匀性后，不改变系统积分时间、不增加软硬件系统的额外开销的条件下，消除因环境温度变化造成的画面非均匀性，提高红外热像仪成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 红外热像仪 校正 挡板 非均匀性 辐射材料 温度可变 非均匀 工作环境温度变化 环境温度变化 软硬件系统 额外开销 改变系统 测试 红外成像 红外辐射 线性区 成像 响应 引入 保证 | ||
【主权项】：
1.一种基于温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，其特征在于：红外热像仪具有非均匀校正挡板，测试步骤如下：/n步骤1：根据探测器F数确定红外热像仪实际使用的积分时间T
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