[发明专利]温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法

权利要求书

1.一种基于温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，其特征在于：红外热像仪具有非均匀校正挡板，测试步骤如下：

步骤1：根据探测器F数确定红外热像仪实际使用的积分时间T₀；

步骤2：在温度范围5℃-40℃范围内，以不大于5℃的步进作为一个温度步长来设置温度点，红外热像仪在积分T₀时间下，在该温度点对着黑体进行直接采集A/D量化原始数据；

将对应于每个温度点的不少于5帧的多帧原始数据进行平均，得到每个温度步长红外热像仪的平均响应值；

所述红外热像仪置于黑体靶面距离不大于200mm的位置，且黑体靶面完全覆盖红外热像仪视场；

步骤3：

当黑体温度越高，输出电压越大时，探测器是正响应，以采集的平均响应值作为对应温度的输出响应值；

当黑体温度越高，输出电压越低时，探测器是负响应，以A/D最大量程值减去采集的平均响应值，得到的是负响应，将负响应转换为正响应并作为对应温度的输出响应值；

采用黑体对外辐射公式，计算相应黑体温度下，探测器响应波段内接收到的黑体辐射能量；

采用插值法拟合得到黑体辐射能量与红外热像仪对应输出响应的响应曲线；

步骤4：在拟合后的响应曲线线性区间内，任选取两点黑体温度T_L与黑体温度T_H，得到黑体温度T_L对应红外热像仪输出响应值为N_L,黑体温度T_H对应红外热像仪输出响应值为N_H；所述T_L与T_H之间的差值大于15摄氏度；

步骤5：将红外热像仪的温度可变辐射挡板切入非均匀校正位置，采集A/D量化原始数据即为挡板对应输出响应值Nd；

步骤6：当采集挡板对应输出响应值Nd满足N_L≤Nd≤N_H，则基于温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试完成；

若不满足，则更换温度可变辐射材料，返回步骤1重复测试过程。

2.根据权利要求1所述基于温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，其特征在于：所述非均匀校正挡板使用温度可变辐射材料制作。

3.根据权利要求1所述基于温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，其特征在于：所述非均匀校正挡板上涂覆温度可变辐射涂层。

4.根据权利要求1所述基于温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，其特征在于：所述步骤2的温度范围为红外热像仪工作环境温度E_L～E_H。