[发明专利]半导体器件及其操作方法有效
| 申请号： | 201711192276.4 | 申请日： | 2017-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN108231125B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 卢映圭 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 李琳;王建国 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种半导体器件包括：熔丝组单元，其包括多个熔丝组，每个熔丝组包括使能熔丝和一个或更多个地址熔丝；断裂控制单元，其适用于在编程操作期间在选中的熔丝组的地址熔丝被编程之后，控制选中的熔丝组的使能熔丝以使其被编程；单元数据验证单元，其适用于在编程操作期间对选中的熔丝组重复地执行验证操作和断裂操作，通过最后验证操作确定来自选中的熔丝组的读取数据是否与对应于断裂地址的目标数据相同，并且输出故障信息；以及熔丝组控制单元，其适用于响应于故障信息，在对选中的熔丝组的编程操作终止之后，控制要对不同的熔丝组执行的编程操作。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：熔丝组单元，其包括多个熔丝组，每个熔丝组包括使能熔丝和一个或更多个地址熔丝；断裂控制单元，其适用于在编程操作期间在选中的熔丝组的地址熔丝被编程之后，控制选中的熔丝组的使能熔丝以使其被编程；单元数据验证单元，其适用于在编程操作期间对选中的熔丝组重复地执行验证操作和断裂操作，通过最后验证操作确定来自选中的熔丝组的读取数据是否与对应于断裂地址的目标数据相同，并且输出故障信息；以及熔丝组控制单元，其适用于响应故障信息，在终止对选中的熔丝组的编程操作之后，控制要对不同的熔丝组执行的编程操作。
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