[发明专利]半导体器件及其操作方法有效

专利信息
申请号: 201711192276.4 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN108231125B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 卢映圭 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44;G11C29/00
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 李琳;王建国
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 及其 操作方法
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

熔丝组单元,其包括多个熔丝组,每个熔丝组包括对应于断裂地址的多个比特位的使能熔丝和一个或更多个地址熔丝,其中所述使能熔丝对应于所述断裂地址的最低有效位LSB以被编程为通知是否所述熔丝组被选中;

断裂控制单元,其适用于:在编程操作期间在选中的熔丝组的地址熔丝被编程之后,控制选中的熔丝组的使能熔丝被编程;

单元数据验证单元,其适用于:在编程操作期间对选中的熔丝组根据顺序地对应于地址熔丝和使能熔丝的断裂地址的从最高有效位MSB至最低有效位LSB的比特位序列来对地址熔丝和使能熔丝重复地执行验证操作和断裂操作,当验证操作最后被再次执行时确定来自选中的熔丝组的读取数据是否与对应于断裂地址的目标数据相同,并且输出故障信息;以及

熔丝组控制单元,其适用于:响应故障信息,在终止对选中的熔丝组的编程操作之后,控制要对除了选中的熔丝组之外的不同熔丝组执行的编程操作。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,多个熔丝组中的每个熔丝组在对应的使能熔丝被编程时被使能,而在所述对应的使能熔丝未被编程时被禁止。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,断裂控制单元包括:

断裂地址计数单元,其适用于产生用于控制内部地址的比特位序列的计数信号,使得使能熔丝在一个或更多个地址熔丝从高位地址熔丝至低位地址熔丝顺序地断裂之后断裂;以及

断裂地址发生单元,其适用于响应于计数信号而将内部地址输出为断裂地址。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,断裂控制单元根据断裂地址的从最高有效位MSB至最低有效位LSB的比特位序列来控制地址熔丝和使能熔丝顺序地断裂。

5.如权利要求1所述的半导体器件,还包括:

命令发生单元,其适用于响应于断裂命令来产生用于对地址熔丝和使能熔丝的验证操作的验证读取信号和断裂操作的断裂信号。

6.如权利要求5所述的半导体器件,其中,单元数据验证单元包括:

信号传输单元,其适用于将验证读取信号作为读取信号来传输并且传输断裂信号;以及

比较单元,其适用于接收从选中的熔丝组输出的读取数据,将与断裂地址相对应的目标数据与读取数据进行比较,并且输出故障信息。

7.根据权利要求6所述的半导体器件,其中,熔丝组控制单元适用于:响应于故障信息来将重启信号传输到熔丝组单元,以及从熔丝组单元接收熔丝组变化信息。

8.根据权利要求7所述的半导体器件,其中,熔丝组单元适用于:

响应于重启信号来执行重启操作,以及

对除了选中的熔丝组之外的不同熔丝组执行编程操作。

9.根据权利要求6所述的半导体器件,其中,熔丝组单元适用于:

响应于断裂信号来对与断裂地址相对应的熔丝进行编程,以及

响应于读取信号来读取被编程的数据以输出所述读取数据。

10.一种半导体器件的操作方法,所述操作方法包括:

提供多个熔丝组,每个熔丝组包括对应于断裂地址的多个比特位的使能熔丝和一个或更多个地址熔丝,其中所述使能熔丝对应于所述断裂地址的最低有效位LSB以被编程为通知是否所述熔丝组被选中;

选择多个熔丝组之中的一个熔丝组;

对选中的熔丝组的地址熔丝进行编程;

在地址熔丝被编程之后对使能熔丝进行编程,而不是在未完成地址熔丝的编程时对使能熔丝进行编程。

11.如权利要求10所述的操作方法,还包括:

当地址熔丝的编程终止而未对使能熔丝进行编程时,对除了选中的熔丝组之外的不同熔丝组进行编程。

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