[发明专利]用于激光光电探测系统的光学参数检测装置在审

专利信息
申请号: 201711164476.9 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN109813529A 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 杜继东;谢飞;吴柯萱;王志;吴红霞;王加朋;何立平;孙广尉;孙红胜 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100074 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种用于激光光电探测系统的光学参数检测装置,该光学参数检测装置包括:辐射光源组件、匀光组件、限光光阑组件、准直光学组件和双光楔组件,匀光组件用于对辐射光源组件发出的激光进行匀化以使得匀化后的激光的特性服从朗伯辐射特性,限光光阑组件用于对匀化后的激光进行限光以使得具有设定角度的激光透过限光光阑组件,准直光学组件用于对限光后的激光进行准直以将激光准直成平行光,双光楔组件用于高精度定向改变准直后的激光的传输方向角以输出具有特定光轴偏向角的平行光。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中光学参数检测装置无法针对激光光电探测系统实施系统级别的激光多参数检测与测试的技术问题。
搜索关键词: 激光 光学参数 检测装置 光电探测系统 光阑组件 匀化 准直光学组件 双光楔组件 辐射光源 平行光 匀光 多参数检测 传输方向 辐射特性 激光透过 激光准直 实施系统 偏向角 光轴 朗伯 准直 测试 输出 应用
【主权项】:
1.一种用于激光光电探测系统的光学参数检测装置,其特征在于,所述光学参数检测装置包括:辐射光源组件(10),所述辐射光源组件(10)用于发出近红外波段激光;匀光组件(20),所述匀光组件(20)用于对所述辐射光源组件(10)发出的激光进行匀化以使得匀化后的所述激光的特性服从朗伯辐射特性;限光光阑组件(30),所述限光光阑组件(30)用于对匀化后的所述激光进行限光以使得具有设定角度的激光透过所述限光光阑组件(30);准直光学组件(40),所述准直光学组件(40)用于对限光后的所述激光进行准直以将所述激光准直成平行光;双光楔组件(50),所述双光楔组件(50)用于高精度定向改变准直后的所述激光的传输方向角以输出具有特定光轴偏向角的平行光。
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