[发明专利]用于激光光电探测系统的光学参数检测装置

权利要求书

1.一种用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述光学参数检测装置包括：

辐射光源组件(10)，所述辐射光源组件(10)用于发出近红外波段激光；

匀光组件(20)，所述匀光组件(20)用于对所述辐射光源组件(10)发出的激光进行匀化以使得匀化后的所述激光的特性服从朗伯辐射特性；

限光光阑组件(30)，所述限光光阑组件(30)用于对匀化后的所述激光进行限光以使得具有设定角度的激光透过所述限光光阑组件(30)；

准直光学组件(40)，所述准直光学组件(40)用于对限光后的所述激光进行准直以将所述激光准直成平行光；

双光楔组件(50)，所述双光楔组件(50)用于高精度定向改变准直后的所述激光的传输方向角以输出具有特定光轴偏向角的平行光。

2.根据权利要求1所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述辐射光源组件(10)包括驱动电路(11)、半导体激光器(12)和耦合输出光纤(13)，所述驱动电路(11)用于驱动控制所述半导体激光器(12)以产生特定脉冲宽度、重复频率和辐射功率参数的激光，所述半导体激光器(12)产生的所述激光通过所述耦合输出光纤(13)进行传输。

3.根据权利要求2所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述匀光组件(20)包括标准光纤输入端口(21)、激光功率监测探测器(22)、匀光输出端口(23)和积分球壳体(24)，所述标准光纤输入端口(21)、所述激光功率监测探测器(22)和所述匀光输出端口(23)固定设置在所述积分球壳体(24)上，所述标准光纤输入端口(21)用于接收所述耦合输出光纤(13)传输的激光，所述激光功率监测探测器(22)用于实时监测和控制所述激光的能量输出，所述积分球壳体(24)用于对所述辐射光源组件(10)发出的激光进行匀化，所述匀光输出端口(23)用于输出匀化后的所述激光。

4.根据权利要求3所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述积分球壳体(24)具有漫反射涂料层，所述漫反射涂料层设置在所述积分球壳体(24)内侧。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述限光光阑组件(30)包括至少两个限光光阑(31)和限光光阑安装支座(32)，至少两个所述限光光阑(31)的通光口径不同，至少两个所述限光光阑(31)设置在所述限光光阑安装支座(32)上。

6.根据权利要求5所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述准直光学组件(40)包括间隔设置的离轴抛物面镜和平面反射镜，所述离轴抛物面镜和所述平面反射镜呈夹角设置，所述离轴抛物面镜和平面反射镜用于实现激光的准直与扩束。

7.根据权利要求6所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述准直光学组件(40)还包括膜层，所述膜层涂覆在所述离轴抛物面镜和所述平面反射镜上以保证具有设定波长的激光的高透过率投射。

8.根据权利要求6所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述双光楔组件(50)包括第一光学镜片(51)、第二光学镜片(52)、第一交叉滚珠轴承(53)、第二交叉滚珠轴承(54)和机械固定机构(55)，所述第一光学镜片(51)设置在所述第一交叉滚珠轴承(53)的内圈，所述第二光学镜片(52)设置在所述第二交叉滚珠轴承(54)的内圈，所述第一交叉滚珠轴承(53)和所述第二交叉滚珠轴承(54)的外圈间隔设置在所述机械固定机构(55)上。

9.根据权利要求8所述的用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，其特征在于，所述机械固定机构(55)包括第一码盘和第二码盘，所述第一码盘靠近所述第一交叉滚珠轴承(53)设置，所述第二码盘靠近所述第二交叉滚珠轴承(54)设置。