[发明专利]用于激光光电探测系统的光学参数检测装置

说明书

本发明提供了一种用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，该光学参数检测装置包括：辐射光源组件、匀光组件、限光光阑组件、准直光学组件和双光楔组件，匀光组件用于对辐射光源组件发出的激光进行匀化以使得匀化后的激光的特性服从朗伯辐射特性，限光光阑组件用于对匀化后的激光进行限光以使得具有设定角度的激光透过限光光阑组件，准直光学组件用于对限光后的激光进行准直以将激光准直成平行光，双光楔组件用于高精度定向改变准直后的激光的传输方向角以输出具有特定光轴偏向角的平行光。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中光学参数检测装置无法针对激光光电探测系统实施系统级别的激光多参数检测与测试的技术问题。

技术领域

本发明涉及光学参数检测的技术领域，尤其涉及一种用于激光光电探测系统的光学参数检测装置。

背景技术

随着激光探测技术的发展，激光探测技术逐渐成为支撑自由空间遥感、通信、高能武器中不可或缺的信息获取的手段，激光光电探测系统尤其在激光主动制导、激光雷达、激光遥感、单兵激光作战武器系统辅助观瞄等设备中应用广泛。激光光电探测系统与单独激光探测器件的区别在于：激光光电探测系统包括激光接收光学镜头、激光光电信号转换器和电信号滤波放大电路，其能够实现对空间传输的激光的接收、采集、光-电信号转换和电信号处理。然而，对于现有的光学参数检测装置而言，其无法针对激光光电探测系统实施系统级别的激光多参数检测与测试。

发明内容

本发明提供了一种用于激光光电探测系统的光学参数检测装置，能够解决现有技术中光学参数检测装置无法针对激光光电探测系统实施系统级别的激光多参数检测与测试的技术问题。

本发明提供了一种测系统的光学参数检测装置，光学参数检测装置包括：辐射光源组件，辐射光源组件用于发出近红外波段激光；匀光组件，匀光组件用于对辐射光源组件发出的激光进行匀化以使得匀化后的激光的特性服从朗伯辐射特性；限光光阑组件，限光光阑组件用于对匀化后的激光进行限光以使得具有设定角度的激光透过限光光阑组件；准直光学组件，准直光学组件用于对限光后的激光进行准直以将激光准直成平行光；双光楔组件，双光楔组件用于高精度定向改变准直后的激光的传输方向角以输出具有特定光轴偏向角的平行光。

进一步地，辐射光源组件包括驱动电路、半导体激光器和耦合输出光纤，驱动电路用于驱动控制半导体激光器以产生特定脉冲宽度、重复频率和辐射功率参数的激光，半导体激光器产生的激光通过耦合输出光纤进行传输。

进一步地，匀光组件包括标准光纤输入端口、激光功率监测探测器、匀光输出端口和积分球壳体，标准光纤输入端口、激光功率监测探测器和匀光输出端口固定设置在积分球壳体上，标准光纤输入端口用于接收耦合输出光纤传输的激光，激光功率监测探测器用于实时监测和控制激光的能量输出，积分球壳体用于对辐射光源组件发出的激光进行匀化，匀光输出端口用于输出匀化后的激光。

进一步地，积分球壳体具有漫反射涂料层，漫反射涂料层设置在积分球壳体内侧。

进一步地，限光光阑组件包括至少两个限光光阑和限光光阑安装支座，至少两个限光光阑的通光口径不同，至少两个限光光阑设置在限光光阑安装支座上。

进一步地，准直光学组件包括间隔设置的离轴抛物面镜和平面反射镜，离轴抛物面镜和平面反射镜呈夹角设置，离轴抛物面镜和平面反射镜用于实现激光的准直与扩束。

进一步地，准直光学组件还包括膜层，膜层涂覆在离轴抛物面镜和平面反射镜上以保证具有设定波长的激光的高透过率投射。

进一步地，双光楔组件包括第一光学镜片、第二光学镜片、第一交叉滚珠轴承、第二交叉滚珠轴承和机械固定机构，第一光学镜片设置在第一交叉滚珠轴承的内圈，第二光学镜片设置在第二交叉滚珠轴承的内圈，第一交叉滚珠轴承和第二交叉滚珠轴承的外圈间隔设置在机械固定机构上。

进一步地，机械固定机构包括第一码盘和第二码盘，第一码盘靠近第一交叉滚珠轴承设置，第二码盘靠近第二交叉滚珠轴承设置。