[发明专利]一种测量空间光调制器相位调制特性的装置及方法在审
| 申请号： | 201711148131.4 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN107941470A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 赵自新;庄义颖;肖昭贤;张航瑛;樊晨;赵宏 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量空间光调制器相位调制特性的装置及方法，包括激光器和空间光调制器，在激光器和空间光调制器之间依次设置有用于扩束的显微物镜，准直透镜，用于将任意偏振态的光转变为线偏振光的起偏器以及分光镜，分光镜用于透过经起偏器的光，并反射经空间光调制器出来的光束，空间光调制器连接有计算机用于加载组合模式灰度图，计算机连接有用于采集干涉条纹图的CCD相机。本发明采用对空间光调制器加载组合模式灰度图的方式，利用液晶闪耀光栅，增强条纹对比度，自干涉法减小了空气湍流的影响，得到的条纹质量更高，且不需要复杂的光学元件，能准确测量大角度入射范围下空间光调制器的相位调制特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 空间 调制器 相位 调制 特性 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量空间光调制器相位调制特性的装置，其特征在于，包括激光器(1)和空间光调制器(8)，在激光器(1)和空间光调制器(8)之间依次设置有用于扩束的显微物镜(2)，准直透镜(4)，用于将任意偏振态的光转变为线偏振光的起偏器(6)以及分光镜(7)，分光镜(7)用于透过经起偏器(6)的光，并反射经空间光调制器(8)出来的光束，空间光调制器(8)连接有计算机(11)用于加载组合模式灰度图，计算机(11)连接有用于采集干涉条纹图的CCD相机(10)。
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