[发明专利]一种制作T型栅结构的电子束光刻方法有效

专利信息
申请号: 201711091798.5 申请日: 2017-11-08
公开(公告)号: CN107863291B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 张鹏;杨眉;马晓华;郝跃;武盛 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;H01L21/28
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种制作T型栅结构的电子束光刻方法,包括以下步骤:在GaN异质结平面材料上,涂覆低灵敏度高光刻剂量的一号光刻胶并烘烤;再在一号光刻胶上涂覆二号光刻胶并烘烤;二号光刻胶采用PMMA‑MAA胶,PMMA‑MAA胶的灵敏度高于PMAA,光刻剂量低于PMMA;再在二号光刻胶上涂覆三号光刻胶并烘烤;三号光刻胶仍采用PMMA‑MAA胶;三号光刻胶的烘烤温度低于二号光刻胶的烘烤温度;随后经过电子束光刻、显影以及剥离工艺,最终形成带有undercut结构的T型栅结构。本发明能够更加便捷和可靠的制备T型栅。
搜索关键词: 一种 制作 结构 电子束光刻 方法
【主权项】:
一种制作T型栅结构的电子束光刻方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:在衬底材料上,涂覆低灵敏度高光刻剂量的一号光刻胶并烘烤;S2:再在一号光刻胶上涂覆二号光刻胶并烘烤,二号光刻胶的灵敏度高于一号光刻胶,二号光刻胶的光刻剂量低于一号光刻胶;S3:再在二号光刻胶上涂覆三号光刻胶并烘烤;三号光刻胶仍采用与二号光刻胶相同的光刻胶,三号光刻胶的烘烤温度低于步骤S2中二号光刻胶的烘烤温度;S4:对步骤S3形成的复合胶层进行电子束光刻,光刻时,两侧图形的光刻剂量设置为适合上层胶的低剂量,中间图形的光刻剂量设置为适合下层胶的高剂量;S5:通过显影形成带有undercut结构的T型结构;S6:在显影后的结构上沉积金属,一号光刻胶的厚度<栅金属厚度<二号光刻胶厚度;S7:采用剥离工艺去掉光刻胶及附着金属,留下淀积在平面材料上的金属,形成T型栅。
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