[发明专利]图像处理方法、图像处理系统及缺陷检测装置有效
申请号: | 201711066359.9 | 申请日: | 2017-11-02 |
公开(公告)号: | CN107784660B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 罗聪 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | G06T7/136 | 分类号: | G06T7/136;G06T7/13;G06T5/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及图像处理方法、图像处理系统及缺陷检测装置,用于对晶元进行光学扫描后形成的原始图像(raw image)进行处理。所述图像处理系统包括图像边缘识别单元、图像分割单元、图像增强单元、图像去噪单元、图像标记单元以及数据存储单元,以便从原始图像中获得目标缺陷例如气泡缺陷的位置和尺寸信息。所述缺陷检测装置包括所述图像处理系统。通过本发明提供的图像处理方法、图像处理系统及缺陷检测装置,可以降低人工判断缺陷的成本以及误差,提高图像处理效率,并且可以及时有效地确定工艺或机台的异常情况,有助于减少由于工艺或机台的异常导致的损失。 | ||
搜索关键词: | 图像 处理 方法 系统 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种图像处理方法,用于对晶元进行光学扫描后形成的原始图像进行处理,其特征在于,包括:图像分割步骤,去除所述原始图像中的第一类干扰图像的信息;图像增强步骤,对所述原始图像中的目标缺陷进行图像增强;图像去噪步骤,去除所述原始图像中的第二类干扰图像的信息,所述第二类干扰图像的信息不同于所述第一类干扰图像的信息;缺陷识别步骤,对所述原始图像中的目标缺陷进行识别;以及,数据存储步骤,存储所述目标缺陷的信息。
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