[发明专利]安全测试模式的检测系统及检测方法有效
| 申请号： | 201711058364.5 | 申请日： | 2017-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN107861047B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 胡晓波;晁攸重;王海峰;邓剑伟;刘亮;甘杰;涂因子;邵瑾;陈奎林;赵东艳;张海峰;唐晓柯;张茜歌 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网新疆电力公司检修公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网公司;国网辽宁省电力有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 李晓康;王芳 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种安全测试模式的检测系统及检测方法，检测系统用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式，安全测试模式的检测系统包含：时序逻辑控制模块、检测电路模块以及触发模块。触发模块用于根据通断状态，产生高电平或低电平的触发信号。时序逻辑控制模块根据低电平的触发信号，输出高电平的测试模式信号，从而使得芯片能够进入安全测试模式；或，时序逻辑控制模块根据高电平的触发信号，输出低电平的测试模式信号，从而使得检测电路模块输出自毁信号使芯片进行自毁操作。借此，本发明的安全测试模式的检测系统，多重保证提高了对芯片敏感信息的保护效力，符合绝大部分工艺实现需求，可广泛应用于各类安全芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 安全 测试 模式 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种安全测试模式的检测系统，用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式，其特征在于，所述安全测试模式的检测系统包含：时序逻辑控制模块，其用以输出测试模式信号；检测电路模块，其用以检测所述检测系统的电路状态，且所述检测电路模块能够根据所述电路状态输出自毁信号；以及与所述时序逻辑控制模块电性连接的触发模块，用于根据通断状态，产生高电平或低电平的触发信号；所述时序逻辑控制模块根据低电平的触发信号，输出高电平的测试模式信号，从而使得所述芯片能够进入安全测试模式；或，所述时序逻辑控制模块根据高电平的触发信号，输出低电平的测试模式信号，从而使得所述检测电路模块输出所述自毁信号使所述芯片进行自毁操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯微电子科技有限公司;国网新疆电力公司检修公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网公司;国网辽宁省电力有限公司，未经北京智芯微电子科技有限公司;国网新疆电力公司检修公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网公司;国网辽宁省电力有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711058364.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
