[发明专利]安全测试模式的检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种安全测试模式的检测系统，用以防止芯片的测试电路被废止后再次进入安全测试模式，其特征在于，所述安全测试模式的检测系统包含：

时序逻辑控制模块，其用以输出测试模式信号；

检测电路模块，其用以检测所述检测系统的电路状态，且所述检测电路模块能够根据所述电路状态输出自毁信号；以及

与所述时序逻辑控制模块电性连接的触发模块，用于根据通断状态，产生高电平或低电平的触发信号，且所述触发模块包括与所述时序逻辑控制模块电性连接的第一熔丝，所述第一熔丝用以根据被划断的状态，产生第一触发信号；

其中，若所述第一熔丝未被划断，则传输给所述时序逻辑控制模块的所述第一触发信号为低电平，所述时序逻辑控制模块输出所述测试模式信号为高电平，从而使得所述芯片能够进入安全测试模式；

其中，若所述第一熔丝被划断，则传输给所述时序逻辑控制模块的所述第一触发信号为高电平，所述时序逻辑控制模块输出所述测试模式信号为低电平，从而使得所述检测电路模块输出所述自毁信号使所述芯片进行自毁操作。

2.根据权利要求1所述的安全测试模式的检测系统，其特征在于，所述安全测试模式的检测系统还包含：

划片槽；

所述第一熔丝的一部分设置于所述划片槽内，并在所述划片槽内进行划断。

3.根据权利要求2所述的安全测试模式的检测系统，其特征在于，所述触发模块还包含：

一端电性连接至地端，另一端通过所述划片槽与所述时序逻辑控制模块连接的第二熔丝，所述第二熔丝用以根据被划断的状态，产生第二触发信号；

其中，若所述第二熔丝未被划断，则传输给所述时序逻辑控制模块的所述第二触发信号为低电平，所述时序逻辑控制模块输出所述测试模式信号为高电平，从而使得所述芯片能够进入安全测试模式；

其中，若所述第二熔丝被划断，则传输给所述时序逻辑控制模块的所述第二触发信号为高电平，所述时序逻辑控制模块输出所述测试模式信号为低电平，从而使得所述检测电路模块输出所述自毁信号使所述芯片进行自毁操作。

4.根据权利要求3所述的安全测试模式的检测系统，其特征在于，所述触发模块还包含：

第三熔丝，其与所述检测电路模块电性连接，所述第三熔丝的一部分设置于所述划片槽内，所述第三熔丝的所述一部分为断开状态，且所述第三熔丝用以根据被连接的状态，产生第三触发信号；

其中，若所述第一熔丝或/及所述第二熔丝与所述第三熔丝相连接，则传输给所述时序逻辑控制模块的所述第三触发信号为高电平，所述时序逻辑控制模块输出所述测试模式信号为低电平，从而使得所述检测电路模块输出所述自毁信号使所述芯片进行自毁操作。

5.根据权利要求4所述的安全测试模式的检测系统，其特征在于，

所述第一熔丝上具有第一电阻，当所述第一熔丝在所述划片槽内的所述一部分被划断时，所述第一熔丝上拉所述第一电阻置为高电平并输出所述第一触发信号为高电平给所述时序逻辑控制模块；和/或

所述第二熔丝上具有第二电阻，当所述第二熔丝在所述划片槽内的所述一部分被划断时，所述第二熔丝上拉所述第二电阻置为高电平并输出所述第二触发信号为高电平给所述时序逻辑控制模块；和/或

所述第三熔丝上具有第三电阻及第四电阻，且所述第三熔丝为所述第三电阻及所述第四电阻的分压信号。

6.根据权利要求5所述的安全测试模式的检测系统，其特征在于，检测电路模块包含：

参考源单元，其用以提供参考信号；及

比较器，其用以比较所述分压信号与所述参考信号，且所述比较器能够输出所述自毁信号。