[发明专利]一种芯片的验证方法和装置有效
| 申请号： | 201710972708.7 | 申请日： | 2017-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN107704351B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 江源;孙冠男;蔡晓艳 | 申请（专利权）人： | 盛科网络（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215021 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片的验证方法，在该验证方法中，首先依照芯片设计规格生成对应的待测试模块、相同的第一参考验证模型和第二参考验证模型；然后在验证的过程中，修改待测试模块和第一参考验证模型的输入数据为第二输入数据，可见在一段时间之后，待测试模块和第一参考验证模块会输出第二输入数据对应的输出数据，因此，可将该待测试模块的输出数据与第二参考验证模块的输出数据进行比较，如果不相等，则表示待测试模块之后的输出数据为第二输入数据对应的输出数据，且在后续的验证中，将待测试模块和第一参考验证模型的输出数据进行比较，即可以将待测试模块和第一参考验证模型的输出数据进行对齐了。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：依照芯片设计规格生成对应的待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型，所述第一参考验证模型和第二参考验证模型相同；向所述待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型输入第一输入数据，并开始芯片验证；将所述待测试模块和第一参考验证模型的输入数据修改为第二输入数据，获取第一参考验证模型的第一输出数据序列、第二参考验证模型的第二输出数据序列和待测试模块的第三输出数据序列，所述第一输出数据序列、第二输出数据序列和第三输出数据序列均以时间顺序排列；在确定第三输出数据序列和第二输出数据序列的前L位均相同、第L位不相同，并且第三输出数据序列和第一输出数据序列的第L位相同时，则在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的数据进行比较，L为自然数。
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