[发明专利]一种芯片的验证方法和装置

权利要求书

1.一种芯片的验证方法，其特征在于，包括以下步骤：

依照芯片设计规格生成对应的待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型，所述第一参考验证模型和第二参考验证模型相同；

向所述待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型输入第一输入数据，并开始芯片验证；其中，向所述待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型输入第一输入数据，包括：将所述第一输入数据写入到待测试模块、第一参考验证模型和第二参考验证模型内部的寄存器和/或存储器中；

将所述待测试模块和第一参考验证模型的所述第一输入数据修改为第二输入数据，获取第一参考验证模型的第一输出数据序列、第二参考验证模型的第二输出数据序列和待测试模块的第三输出数据序列，所述第一输出数据序列、第二输出数据序列和第三输出数据序列均以时间顺序排列；其中，将所述待测试模块和第一参考验证模型的所述第一输入数据修改为第二输入数据，包括：将所述第二输入数据写入到待测试模块和第一参考验证模型内部的寄存器和/或存储器中；

在确定第三输出数据序列和第二输出数据序列的前L-1位均相同、第L位不相同，并且第三输出数据序列和第一输出数据序列的第L位相同时，则在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的数据进行比较，L为自然数。

2.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，还包括以下步骤：

在确定第三输出数据序列的第L位和第一输出数据序列的第L位不相同、且第三输出数据序列的第L位和第二输出数据序列的第L位也不相同时，则所述待测试模块没有通过测试，L为自然数。

3.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，所述在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的数据进行比较，包括：

在后续芯片验证中，在确定第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的所有相同位置的数据都相等，则所述待测试模块通过测试。

4.根据权利要求3所述的芯片的验证方法，其特征在于，所述在后续芯片验证中，将第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的数据进行比较，包括：

在后续芯片验证中，在确定第三输出数据序列与第一输出数据序列的L位之后的任一相同位置的数据不相等，则所述待测试模块没有通过测试。

5.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，所述获取第一参考验证模型的第一输出数据序列、第二参考验证模型的第二输出数据序列和待测试模块的第三输出数据序列，包括：

从第一参考验证模型、第二参考验证模型和待测试模块的内部寄存器和/或存储器中分别读取输出数据，并按照时间顺序排列成第一输出数据序列、第二输出数据序列和第三输出数据序列。

6.根据权利要求1所述的芯片的验证方法，其特征在于，还包括以下步骤：

在后续芯片验证中，将所述第二参考验证模型的所述第一输入数据修改为第二输入数据。