[发明专利]传感器以及传感器的阈值设定方法有效
| 申请号： | 201710961963.1 | 申请日： | 2017-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN108345042B | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 谷末光平 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10;G05B19/05 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉;邓毅 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及传感器以及传感器的阈值设定方法。提供了基于受光量与阈值的比较的物体检测精度高的传感器以及该传感器的阈值设定方法。光电传感器(1)是通过由受光部(104)接收来自投光部(103)的光而检测物体的传感器，以时间对所采样的受光量进行微分，从而计算每单位时间的受光量变化量，且将与该受光量变化量的极值对应的受光量设定为阈值。这样，由于考虑每单位时间的受光量变化量来设定阈值，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高，能够最小限度地抑制从光电传感器(1)至PLC(201)的检测信号的抖动。 | ||
| 搜索关键词： | 受光量 传感器 阈值设定 变化量 光电传感器 物体检测 检测信号 最小限度 受光部 投光部 采样 抖动 检测 | ||
【主权项】：
1.一种传感器，其通过由受光部接收来自投光部的光而检测物体，该传感器具有：/n采样部，其对由所述受光部接收的受光量进行采样；/n计算部，其根据由所述采样部采样的受光量，计算每单位时间的受光量变化量；/n设定部，其在所述每单位时间的受光量变化量满足规定条件时，将与该每单位时间的受光量变化量对应的受光量设定为阈值；以及/n检测部，其通过由所述受光部接收的受光量与所述阈值的比较来检测所述物体。/n
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