[发明专利]传感器以及传感器的阈值设定方法

说明书

本发明涉及传感器以及传感器的阈值设定方法。提供了基于受光量与阈值的比较的物体检测精度高的传感器以及该传感器的阈值设定方法。光电传感器(1)是通过由受光部(104)接收来自投光部(103)的光而检测物体的传感器，以时间对所采样的受光量进行微分，从而计算每单位时间的受光量变化量，且将与该受光量变化量的极值对应的受光量设定为阈值。这样，由于考虑每单位时间的受光量变化量来设定阈值，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高，能够最小限度地抑制从光电传感器(1)至PLC(201)的检测信号的抖动。

技术领域

本发明涉及通过由受光部接收来自投光部的光而检测物体的传感器以及该传感器的阈值设定方法。

背景技术

以往，众所周知通过由受光部接收来自投光部的光而检测物体的传感器。例如，日本特开2013-102424号公报中公开了如下光电传感器，其由受光部接收从投光部投射的光，并根据由该受光部接收的受光量是否超过预设的阈值来检测物体。在该光电传感器中，将阈值设定为不存在物体时的最大受光量与存在物体时的最小受光量之间的中间值。

专利文献1：日本特开2013-102424号公报

发明内容

如专利文献1中公开的光电传感器那样，当忽视受光量的变化而将阈值设定为最大受光量与最小受光量之间的中间值时，有可能使接近阈值的受光量的变化变缓。在设定了这样的阈值时，光传感器具有位于判断为检测到了物体的范围内的程度的广度，输出检测结果的时机可能会产生偏差。因此，当以来自光电传感器的检测结果为基础实施机械控制和/或图像传感器等的触发输入时，在专利文献1中公开的光电传感器中，会有控制时机产生偏差这样的问题。

本发明就是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种基于受光量与阈值的比较的物体检测精度高的传感器以及该传感器的阈值设定方法。

根据本公开的某方面，传感器通过由受光部接收来自投光部的光而检测物体。传感器具有采样部、计算部、设定部以及检测部。采样部对由受光部接收的受光量进行采样。计算部根据由采样部采样的受光量，计算每单位时间的受光量变化量。在每单位时间的受光量变化量满足规定条件时，设定部将与该每单位时间的受光量变化量对应的受光量设定为阈值。检测部通过由受光部接收的受光量与阈值的比较来检测所述物体。

通过上述结构，当每单位时间的受光量变化量满足规定条件时，与该每单位时间的受光量变化量对应的受光量被设定为阈值。这样，由于考虑每单位时间的受光量变化量来设定阈值，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高。

优选地，采样部以恒定周期对由受光部接收的受光量进行采样。

通过上述结构，根据所采样的受光量，容易地计算每单位时间的受光量变化量。

优选地，计算部计算每单位时间的受光量变化量的进一步的每单位时间的变化量。当进一步的每单位时间的变化量大于规定值时，设定部将与该进一步的每单位时间的变化量对应的受光量不设为阈值的设定对象。

通过上述结构，当进一步的每单位时间的变化量大于规定值时，可能会受到噪声等的影响。在这种情况下，由于将与该进一步的每单位时间的变化量对应的受光量不设为阈值的设定对象，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高。

优选地，当多个每单位时间的受光量变化量满足规定条件时，设定部根据对与该多个每单位时间的受光量变化量对应的受光量中的各个受光量进行加权而得到的结果，设定阈值。

通过上述结构，即使在多个每单位时间的受光量变化量满足规定条件的情况下，由于通过加权设定阈值，因此基于受光量与阈值的比较的物体检测精度变高。

优选地，设定部在由检测部使用阈值检测物体的期间，将该阈值更新为根据由采样部采样的受光量而新设定的阈值。