[发明专利]DDR测试系统和方法在审
| 申请号： | 201710938856.7 | 申请日： | 2017-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107731265A | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 李欠倩 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司;浙江剑桥电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所31283 | 代理人： | 胡美强,张冉 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DDR测试系统和方法，其中，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；测试治具平台用于固定待测单元；自动控制装置用于获取待测单元的电路图，并用于获取测试治具平台的位置，并用于根据电路图控制信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触；信号检测装置用于获取芯片的待测信号。采用分发明的DDR测试系统和方法，可以极大提高信号检测装置的探头与待测点接触的准确度和稳定度，且可以自动移动信号检测装置的探头，极大减少人工操作造成的误差和错误，提高测试效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | ddr 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种DDR测试系统，其特征在于，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；所述测试治具平台用于固定待测单元，DDR芯片焊接于待测单元上；所述自动控制装置用于获取所述待测单元的电路图，并用于获取所述测试治具平台的位置，并用于获取所述待测单元在所述测试治具平台上的位置，并用于根据所述电路图控制所述信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触，所述待测信号线为所述待测单元上与所述DDR芯片的待测引脚相连的金属线；信号检测装置用于获取所述DDR芯片的待测信号。
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