[发明专利]DDR测试系统和方法在审
| 申请号： | 201710938856.7 | 申请日： | 2017-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107731265A | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 李欠倩 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司;浙江剑桥电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所31283 | 代理人： | 胡美强,张冉 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | ddr 测试 系统 方法 | ||
1.一种DDR测试系统，其特征在于，所述DDR测试系统包含自动控制装置、信号检测装置、测试治具平台；
所述测试治具平台用于固定待测单元，DDR芯片焊接于待测单元上；
所述自动控制装置用于获取所述待测单元的电路图，并用于获取所述测试治具平台的位置，并用于获取所述待测单元在所述测试治具平台上的位置，并用于根据所述电路图控制所述信号检测装置的探头与DDR芯片的待测信号线接触，所述待测信号线为所述待测单元上与所述DDR芯片的待测引脚相连的金属线；
信号检测装置用于获取所述DDR芯片的待测信号。
2.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述信号检测装置包含示波器。
3.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述测试治具平台还包含挡板，用于限定所述待测单元的位置。
4.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述测试治具平台还包含可变长度的固定杆，用于根据所述待测单元的尺寸调节长度，以固定所述待测单元的位置。
5.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述探头为差分探头。
6.如权利要求1所述的DDR测试系统，其特征在于，所述待测单元固定于所述测试治具平台上时的方向与所述自动控制装置获取的所述待测单元的电路图的方向一致。
7.一种DDR测试方法，其特征在于，所述DDR测试方法包含以下步骤：
S1、将待测单元的PCB表面绝缘层刮除，露出DDR芯片的待测信号的金属引线，所述DDR芯片焊接于所述PCB；
S2、将所述待测单元固定于测试治具平台上；
S3、自动控制装置获取所述测试治具平台的位置，获取所述待测单元在测试治具平台上的位置，获取所述待测单元的电路图；
S4、所述自动控制装置根据所述电路图控制信号检测装置的探头依次与所述DDR芯片的待测信号的金属引线接触，获取所述DDR芯片的待测信号。
8.如权利要求7所述的DDR测试方法，其特征在于，所述待测单元固定于测试治具平台上时的方向与所述自动控制装置获取的所述待测单元的电路图的方向一致。
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