[发明专利]一种反应离子刻蚀方法形成的纳米绒面表面缺陷修复方法在审
申请号: | 201710908714.6 | 申请日: | 2017-09-29 |
公开(公告)号: | CN107623056A | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
发明(设计)人: | 丁建宁;盛健;袁宁一;杨亚娣 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/02 |
代理公司: | 常州市权航专利代理有限公司32280 | 代理人: | 袁兴隆 |
地址: | 213100 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种反应离子刻蚀方法形成的纳米绒面表面缺陷修复方法,包括步骤(1)反应离子刻蚀方法形成的纳米绒面表面损伤层去除及表面微修饰配置HF臭氧混合溶液,将经反应离子刻蚀处理后的硅片放于HF臭氧混合溶液中,使硅片表面形成氧化硅层;(2)在纳米绒面制备完成后,将硅片放于由HF、HCl和去离子水混合而成的混合溶液中,去除硅片表面的氧化硅层及金属离子,然后烘干,进入多晶电池片正常流程。该方法可以精准控制所去除损伤层的厚度,使得去损伤后反射率范围集中,电池片颜色外观均一;与现有去损伤层工艺相比,化学品耗用量低;O3不但可去除表面损伤层,而且对硅片表面的有机物及金属离子也有较好的清除能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 反应 离子 刻蚀 方法 形成 纳米 表面 缺陷 修复 | ||
【主权项】:
一种反应离子刻蚀方法形成的纳米绒面表面缺陷修复方法,其特征在于,包括步骤:(1) 反应离子刻蚀方法损伤层去除及表面微修饰:配置HF臭氧混合溶液,将经RIE处理后的硅片放置于所述HF臭氧混合溶液中,使得硅片表面形成氧化硅层;(2)在纳米绒面制备完成后,将硅片放置于由HF、HCl和去离子水混合而成的混合溶液中,去除硅片表面的氧化硅层及金属离子,然后烘干,进入多晶电池片正常流程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州大学,未经常州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710908714.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种花卉包装盒
- 下一篇:一种多用速溶饮料冲剂包装袋
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的