[发明专利]探针、探针卡和接触检查装置有效
| 申请号： | 201710896642.8 | 申请日： | 2017-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107870255B | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 久我智昭 | 申请（专利权）人： | 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 探针、探针卡和接触检查装置。根据本发明的探针(3)包括：探针基体(4)，其具有作为在检查时与测试对象(7)接触的部分的第一端(4a)和与触点构件(17)接触的第二端(4b)；覆盖构件(5)，其覆盖第一端(4a)与第二端(4b)之间的探针基体(4)；以及扩径部(6)，其设置在探针基体(4)的位于第二端(4b)侧的露出部(41)。通过使覆盖构件(5)的位于第一端(4a)侧的末端部(5a)压靠接触检查装置(1)的基部(37)，将探针(3)安装在弯曲变形状态。探针基体(4)的第二端(4b)通过归因于该压靠的反作用力而压靠触点构件(17)的触点(16)。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 接触 检查 装置 | ||
【主权项】：
一种探针，其安装到接触检查装置并用于通过压靠测试对象而进行接触检查，所述探针包括：探针基体，其具有第一端和第二端，所述第一端为与检查中设置的所述测试对象接触的部分，所述第二端与所述接触检查装置的电触点接触；以及覆盖构件，其在所述第一端与所述第二端之间覆盖所述探针基体，其中通过使所述覆盖构件的位于所述第一端所在侧的末端部压靠所述接触检查装置的基部，将所述探针安装在弯曲变形状态，通过归因于所述压靠的反作用力使所述探针基体的第二端压靠所述电触点，并且所述探针基体的位于所述第二端所在侧的、从所述覆盖构件露出的部分设置有扩径部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本麦可罗尼克斯股份有限公司，未经日本麦可罗尼克斯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710896642.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：血清制备
- 下一篇：一种小型电磁屏蔽测试系统
