[发明专利]基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法有效
申请号: | 201710876747.7 | 申请日: | 2017-09-25 |
公开(公告)号: | CN107798698B | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 张英杰;陈波;李程辉;张佳瑞;代博超 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G06T7/521 | 分类号: | G06T7/521;G06T7/66;G01B11/25 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法,首先通过四步相移法得到条纹的包裹相位图,利用包裹相位差分实现多条纹的分割,并结合条纹灰度极值与相位的余弦信息实现条纹灰度分布的修正,从而消除了物体表面反射率对条纹灰度分布的影响,然后采用查找最小非对称度的方式确定最佳灰度阈值并进行灰度重心运算,实现了条纹中心的亚像素级图像坐标提取。本发明的方法由于避免了物体表面反射率和表面曲率对条纹灰度分布的影响,从而提高了条纹中心提取的精度,为复杂物体的高精度结构光三维形貌测量奠定了基础。 | ||
搜索关键词: | 基于 灰度 修正 自适应 阈值 结构 条纹 中心 提取 方法 | ||
【主权项】:
基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法,其特征在于,通过投影正弦光栅图像到被测物体上并采用四步相移法得到包裹相位图,利用包裹相位差分实现多条纹的分割,利用条纹灰度极值与包裹相位的余弦信息对条纹灰度分布进行修正,然后采用查找最小非对称度的方式确定最佳灰度阈值并进行灰度重心运算,实现条纹中心的亚像素级图像坐标提取。
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