[发明专利]一种基于SOI-MEMS的温控隔振平台加工方法有效

专利信息
申请号: 201710857320.2 申请日: 2017-09-21
公开(公告)号: CN107659283B 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 刘炎 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H03H3/02 分类号: H03H3/02;H03H9/02;H03H9/24
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 张彩锦;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于温控隔振结构制备工艺领域,并具体公开了一种基于SOI‑MEMS的温控隔振平台加工方法,其包括如下步骤:选取SOI硅片,使其顶硅层进行外延生长,形成与顶硅层晶体结构相同的硅外延生长层,在硅外延生长层的表面形成第一绝缘层;在第一绝缘层的表面制备加热单元、第一焊盘、温度传感单元、第二焊盘和互连导线;在第一绝缘层上制备第二绝缘层,然后制备MEMS振荡器结合焊盘、第三焊盘和输出互连导线;刻蚀第二绝缘层和第一绝缘层形成沟槽,并刻蚀基底层以获得所需的锚定结构,然后刻蚀硅外延生长层使其与沟槽导通,最后刻蚀二氧化硅埋氧层以此制备获得所需的温控隔振平台。本发明具有制备工艺简单、可操作性强等优点。
搜索关键词: 一种 基于 soi mems 温控 平台 加工 方法
【主权项】:
1.一种基于SOI‑MEMS的温控隔振平台加工方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)选取SOI硅片,该SOI硅片上部的顶硅层(101)用于加工隔振悬臂结构,下部的基底层(103)用于加工锚定结构,中部的二氧化硅埋氧层(102)用于实现顶硅层和基底层的隔离;使所述顶硅层进行外延生长,形成与顶硅层晶体结构相同的硅外延生长层(104),在所述硅外延生长层的表面形成第一绝缘层(105);(2)在所述第一绝缘层(105)的表面制备加热单元(21)、第一焊盘(23)、温度传感单元(24)、第二焊盘(26)、所述加热单元(21)与第一焊盘(23)之间的第一互连导线(22)以及所述温度传感单元(24)与第二焊盘(26)之间的第二互连导线(25);(3)在已制备加热单元(21)、第一焊盘(23)、温度传感单元(24)、第二焊盘(26)、第一互连导线(22)和第二互连导线(25)的所述第一绝缘层(105)上制备第二绝缘层(115),然后在该第二绝缘层(115)上制备MEMS振荡器结合焊盘(31)、第三焊盘(33)以及所述MEMS振荡器结合焊盘(31)与第三焊盘(33)之间的输出互连导线(32);(4)根据隔振悬臂结构的加工图案刻蚀第二绝缘层(115)和第一绝缘层(105)以形成沟槽(117),并根据锚定结构的加工图案刻蚀所述基底层(103)以获得所需的锚定结构,然后刻蚀硅外延生长层(104)使其与所述沟槽(117)导通,最后刻蚀二氧化硅埋氧层(102),以此制备获得所需的温控隔振平台。
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