[发明专利]基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法有效
| 申请号： | 201710853972.9 | 申请日： | 2017-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN107633867B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 黄欢;施冠良 | 申请（专利权）人： | 南京扬贺扬微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/04 |
| 代理公司： | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人： | 贺翔;徐晓鹭 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法，该测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的FT4222芯片设备，针对不同参数的SPI NAND Flash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到FT4222芯片模块对所述SPI NAND Flash模块进行测试。该测试方法可以测试简单的SPI NAND Flash的读、写、擦除、BurnIn test(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，达到一些特殊的测试目的。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ft4222 spi 闪存 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
基于FT4222的SPI闪存测试系统，其特征在于，所述测试系统包括处理器模块、SPI NAND Flash模块、FT4222芯片模块以及各模块之间的通信连接。
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