[发明专利]基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法

说明书

本发明公开一种基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法，该测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的FT4222芯片设备，针对不同参数的SPI NAND Flash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到FT4222芯片模块对所述SPI NAND Flash模块进行测试。该测试方法可以测试简单的SPI NAND Flash的读、写、擦除、BurnIn test(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，达到一些特殊的测试目的。

技术领域

本发明涉及一种基于FT4222的SPI NAND Flash测试方法，属于SPI NAND Flash测试领域。

背景技术

SPI NAND Flash测试通常由两块FPGA板相连，一块作为Host端，一块作为Device端，测试时通过Host端执行不同的指令测试Device端的各种功能是否正确。此方法有2个弊端，一是由于Host端执行的bin文件烧在ROM里，因此测试过程中，需要频繁的烧录，比较麻烦。二是这种测试只能测正常情况下的SPI的功能和响应，有些特殊情况或是测试内容无法实现，不够灵活。

于是，采用FT4222模拟Host行为，把需要执行的指令编辑在文本文档中，测试时只需要修改文本文档中的内容，然后通过软件程序Load File并执行，指令可以任意组合搭配，并且方便修改，提高效率。

SPI协议是一个简易便捷的通信协议，各种主控芯片上都会存在，用于连接周边模块。目前存储芯片应用广泛，需求量大，SPI NAND Flash在各种设备上都有应用，而Flash的稳定性需要大量测试保证，并且SPI NAND Flash的测试需要长时间大量的资料读写，随机区块存取等复杂的操作，所以需要一个系统的方法来对Flash进行测试。

发明内容

针对上述技术问题，本发明旨在提供一种基于FT4222的SPI NAND Flash测试方法，该测试方法可以测试简单的SPI NAND Flash的读、写、擦除、BurnIn test(稳定性测试)，同时还可通过修改测试软件程序代码，达到一些特殊的测试目的。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

基于FT4222的SPI闪存测试系统，所述测试系统包括处理器模块、SPI NAND Flash模块、FT4222芯片模块以及各模块之间的通信连接。

所述处理器模块与FT4222芯片模块间通过USB连接。

所述处理器模块用于生成测试指令，所述测试指令经USB传输到FT4222芯片模块，由FT4222芯片模块自带USB和SPI协议的转换功能，把待测的指令转换成SPI形式，传给SPINAND Flash模块运行指令后，再通过FT4222芯片模块把结果传回到所述处理器模块上，从而判断指令运行的正确性。

基于FT4222的SPI闪存测试方法，所述测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的FT4222芯片设备，针对不同参数的SPI NAND Flash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到FT4222芯片模块对所述SPI NAND Flash模块进行测试。

进一步的，所述方法具体包括以下步骤：

步骤一，在处理器模块中输入所需要测试的指令；

步骤二，脚本文件输入完毕后，打开调用调试工具，获取与处理器连接的芯片设备，选中FT4222芯片设备；然后设置SPI NAND flash模块参数以及测试所需的条件，将所述待测指令文档载入，通过FT4222芯片模块的库函数实现SPI NAND Flash的测试工作；

步骤三，通过逻辑分析仪观察波形检验指令运行结果的正确性。

所述处理器模块为PC。