[发明专利]基于FT4222的SPI闪存测试系统及方法

权利要求书

1.基于FT4222的SPI闪存测试方法，其特征在于，所述方法基于以下测试系统：

所述测试系统包括处理器模块、SPI NAND Flash模块、FT4222芯片模块以及各模块之间的通信连接；

所述处理器模块与FT4222芯片模块间通过USB连接；

所述处理器模块用于生成测试指令，所述测试指令经USB传输到FT4222芯片模块，由FT4222芯片模块自带USB和SPI协议的转换功能，把待测的指令转换成SPI形式，传给SPINAND Flash模块运行指令后，再通过FT4222芯片模块把结果传回到所述处理器模块上，从而判断指令运行的正确性；

所述测试方法根据测试人员输入的测试语句，调用调试工具中的FT4222芯片设备，针对不同参数的SPI NAND Flash模块配置测试条件，最后将测试语句载入到FT4222芯片模块对所述SPI NAND Flash模块进行测试；

所述方法具体包括以下步骤：

步骤一，在处理器模块中输入所需要测试的指令；所述在处理器模块中输入所需要测试的指令具体为：首先创建一个文本文档，输入所需要测试的指令，如果是多条组合需分行输入，格式为两个字节十六进制数，以空格隔开，依次排列下去，输入完以回车换行；

步骤二，脚本文件输入完毕后，打开调用调试工具，获取与处理器连接的芯片设备，选中FT4222芯片设备；然后设置SPI NAND flash模块参数以及测试所需的条件，将待测试语句载入，通过FT4222芯片模块的库函数实现SPI NAND Flash的测试工作；

步骤三，通过逻辑分析仪观察波形检验指令运行结果的正确性。

2.根据权利要求1所述的基于FT4222的SPI闪存测试方法，其特征在于，所述处理器模块为PC。

3.根据权利要求1所述的基于FT4222的SPI闪存测试方法，其特征在于，所述逻辑分析仪从FPGA采集数字信号。